Предварительное исследование




Технологического процесса (1 этап)

1. Определяем код объема выборки по табл. 21.4. При 3-м уровне контроля он соответствует К.

2. По табл. 21.5 при коде К определяем, что объем выборки n = 125.

3. Подсчитываем по формуле (21.1) объем исходной информации SПi = 125×20 = 2500 шт.

4. Заносим в табл. 21.7 значения количества дефектных поверхностей Di для 20 выборок, приведенных в табл. 21.3.

5. Подсчитываем по формуле (21.2) долю дефектных поверхностей и заносим в табл. 21.7.

6. Определяем средний уровень дефектности по выражению (21.3) как

7. Строим контрольную карту в табл. 21.7 и визуально оцениваем состояние технологического процесса за исследуемый период. Из данных видно, что 3, 4 и 5 выборки имеют существенно повышенный брак.

8. Обосновываем исключение из результатов контроля грубых погрешностей, для чего:

определяем по формуле (21.5) среднее квадратичное отклонение результатов наблюдений ;

определяем статистический критерий 2S =2× 2,33 = 4,66%;

определяем по формуле (21.4) номера выборок, которые следует исключить из результатов контроля:

для выборок № 3 и 5 DР = (7,2 – 2,56) = 4,64%, что меньше 2S;

для выборки № 4 DР = (8,8 – 2,56) = 6,24%, что больше 2S.

Следовательно, из результата контроля исключаем выборку № 4.

9. Определяем по формуле (21.3) средний уровень дефектности при нормальном состоянии технологического процесса .

Этот уровень дефектности принимаем в качестве исходного при выборе приемочного уровня дефектности.

10. По табл. 21.5 находим, что ближайшим к 2,23% допустимым уровнем дефектности является AQL =2,5%.

Выбор плана контроля (2 этап)

Объем выборки уже определен (n = 125).

1. Определяем по табл. 21.5 браковочное число d, которое при AQL = 2,5% и коде К равно d = 8.

2. Если считать, что определение параметра Ra на профилометре является трудоемким, то переводим контроль на 1-й уровень, что по табл. 21.4 соответствует коду G. Объем выборки при этом по табл. 21.5 n = 32, а браковочное число d = 3.

 

Таблица 21.7

Номер выборки Количество дефектов Di Уровень дефектности P,% Pi - P`   (Pi – P)2   Уровень дефектности Р,%     0 1 2 3 4 5 6 7 8 9
    1,6 -0,96 0,9216                    
    1,6 -0,96 0,9216                    
    7,2 +4,64 21,5296                    
    8,8 +6,24 38,9376                    
    7,2 +4,64 21,5296                    
    2,4 -0,16 0,0256                    
    0,8 -1,76 3,0976                    
    1,6 -0,96 0,9216                    
    1,6 -0,96 0,9216                    
    2,4 -0,16 0,0256                    
    2,4 -0,16 0,0256                    
    1,6 -0,96 0,9216                    
    0,8 -1,76 3,0976                    
    1,6 -0,96 0,9216                    
    1,6 -0,96 0,9216                    
    2,4 -0,16 0,0256                    
    2,4 -0,16 0,0256                    
      -2,56 6,5536                    
    1,6 -0,96 0,9216                    
    1,6 -0,96 0,9216                    
S       103,168                    

3. Итак, для статистического регулирования технологического процесса по шероховатости выбран следующий план контроля: М = 1500 – 3000 поверхностей; AQL = 2,5%; n = 32; d = 3; t определяется цикличностью процесса.

4. Определяем границы регулирования (см. табл. 21.6) как

.

5. Результаты контроля заносим в график (см. табл. 21.7).

Вопросы для самоконтроля

1. В чем заключается контроль по альтернативному признаку?

2. Преимущества контроля по альтернативному признаку по сравнению с другими признаками.

3. В чем заключается выбор плана контроля при статистическом регулировании технологического процесса по альтернативному признаку?

4. Что такое «приемочное» и «браковочное» числа?

5. Для каких целей применяется Р -карта (доля дефектных изделий) и как ее построить?

6. Что такое приемочный уровень дефектности (AQL) и как он определяется?

7. Что такое браковочный уровень дефектности (LQ)?

 



Поделиться:




Поиск по сайту

©2015-2024 poisk-ru.ru
Все права принадлежать их авторам. Данный сайт не претендует на авторства, а предоставляет бесплатное использование.
Дата создания страницы: 2016-04-15 Нарушение авторских прав и Нарушение персональных данных


Поиск по сайту: