Операция 7. Формирование металлизации и затвора




Операция 3. Легирование фосфором областей стока и истока. Первыйэтап.

implant phosphor dose=1.43e13 energy=32 tilt=0 rotation=0 crystal

 

#Экстракцияпараметраслоевогосопротивления

 

extract name="RS3" sheet.res material="Silicon" mat.occno=1 x.val=0.3 region.occno=1

 

#Экстракция параметра глубины залегания p-n перехода

 

extract name="Ja1" xj material="Silicon" mat.occno=1 x.val=0.3 junc.occno=1

#

После проведения операции 3 величина слоевого сопротивления RS3 равна 5266.29Ом/см2 (5500 Ом/см2), а глубина залегания p-n перехода составляет 0,115 мкм (0,112 мкм).

 

Операция 4.Вторй этап легирования областей стока и истока фосфором [ 2].

 

implant phosphor dose=0.8e14 energy=10 tilt=0 rotation=0 crystal[ 3]

 

#Экстракцияпараметраслоевогосопротивления

 

extract name="RS4" sheet.res material="Silicon" mat.occno=1 x.val=0.3 region.occno=1

 

#Экстракция параметра глубины залегания p-n перехода

 

extract name="Ja2" xj material="Silicon" mat.occno=1 x.val=0.3 junc.occno=1

#

После операции 4 величина слоевого сопротивления RS4 равна 2562.86Ом/см2 (2748 Ом/см2), а глубина залегания p-n перехода составляет 0,113 мкм.

 

Операция 5. Синхронный отжиг.

 

Проводится с целью устранения дефектов после операций имплантации фосфора, а так же для разгонки внедренной примеси.

 

diffus time=20 temp=500

 

#Экстракция параметра слоевого сопротивления

 

extract name="RS5" sheet.res material="Silicon" mat.occno=1 x.val=0.3 \

region.occno=1

 

#Экстракция параметра глубины залегания p-n перехода

 

extract name="Ja3" xj material="Silicon" mat.occno=1 x.val=0.3 junc.occno=1

#

После операции 5 величина слоевого сопротивления RS5 равна 2562.86 Ом/см2[ 4] (2748 Ом/см2[ 5]), а глубина залегания p-n перехода составляет 0,113 мкм.

Перед операцией формирования подзатворного диэлектрика требуется удалить фоторезист и слой окисла.

 

etch photoresist all

#

etch oxide all

#

deposit oxide thick=0.02

#

etch oxide start x=0 y=-0.01

etchcont x=0 y=0.01

etchcont x=0.35 y=0.01

etchcont x=0.35 y=-0.0055

etchcont x=1 y=-0.0055

etchcont x=1 y=0.01

etchcont x=1.35 y=0.01

etch done x=1.35 y=-0.01

#

Операция 6. Формирование подзатворного диэлектрика.

 

extract name="Rs6" sheet.res material="Silicon" mat.occno=1 x.val=0.3 \

region.occno=1

#

extract name="Tox6" thickness material="SiO~2" mat.occno=1 x.val=0.3

#

extract name="Ja4" xj material="Silicon" mat.occno=1 x.val=0.3 junc.occno=1

 

После операции 6 слоевое сопротивление res равно 2541.67 Ом/см2 (2674,16 Ом/см2), глубина залегания p-n перехода равна 0.116 мкм (0,118мкм), а толщина подзатворного диэлектрика 128,513 Å (126,721 Å).

 

Операция 7. Формирование металлизации и затвора

 

#осаждение алюминия и последующее его стравливание для формирования металлизации под области стока и истока

 

deposit aluminum thick=0.10 divi=10

#

etchalumin start x=0.4 y=-0.2

etchcont x=0.4 y=-0.0055

etchcont x=0.5 y=-0.0055

etch done x=0.5 y=-0.2

#

etchalumin start x=0.9 y=-0.2

etchcont x=0.9 y=-0.0055

etchcont x=1 y=-0.0055

etch done x=1 y=-0.2

#

tonyplot

#

electrode name=gate x=0.7

electrode name=source x=0.2

electrode name=drain x=1.2

electrode name=substrate backside

#

 

 

Рис. 1. Конечный вид N-МОП структуры.

 

 

Рис. 2. Профиль распределения примеси[ 6].

 

Далее используем модуль Atlas для получения вольтамперной характеристики[ 7]. Измерения[ 8] будем проводить от 0 до 5В с шагом 0,05В.

 

go atlas

#Указываем физические модели используемые в расчетах: CVT - модель подвижности носителей заряда Ломбарди; SRH - ШРХ-модель рекомбинации носителей заряда[ 9]; PRINT - добавляет в файл информацию о параметрах используемых моделей.

modelscvtsrhprint

 

#Указываем материал контакта, если он отличен от омического.

 

contact name=gate n.polysilicon

 

#Указываем метод решения систем уравнений

 

method newton[ 10]

solveinit

 

# Для лучшей сходимости[ 11] первые несколько точек вычисляем при малых смещениях, а затем подаем большее напряжение

 

solvevdrain=0.005

solvevdrain=0.01

solvevdrain=0.1

 

#Вычисляем передаточную характеристику[ 12] транзистора

 

log outf=1.log master

solvevgate=0 vstep=0.5[ 13] vfinal=3 name=gate

saveoutf=1.str

tonyplot 1.log

 

#Экстрагируем значение порогового напряжения

 

Extract name="vt" exintercept(maxslope(curve(abs(v."gate"),abs(i."drain"))))\- abs(ave(v."drain"))/2.0)

#

 

Рис. 3. ВАХ

С помощью программного модуля ATLAS комплекса Silvaco была смоделирована вольт-амперная характеристика, представленная на рисунке 3, а также рассчитано[ 14] значение порогового напряжения - 0.5В.

Вывод: В процессе выполнения лабораторной работы были получены навыки в области компьютерного проектирования с использованием программного комплекса Silvaco. В соответствии с заданием был промоделирован технологический маршрут изготовления N-МОП транзистора и получены его характеристики.

Получено значение порогового напряжения – Vt = 0,5В

 

Следует представить итоговую таблицу полученных Вами промежуточных результатов и тех, которые содержатся в исходной таблице, с указание отличий в %.

[ 1]Какой Ваш номер варианта?

Какой смысл мне читать Ваш отчет, если я не знаю номера Вашего варианта!

[ 2]Зачем два этапа?

[ 3]Что означают эти параметры?

[ 4]Слоевое сопротивление имеет другую размерность.

Вообще – что такое «слоевое сопротивление»?

[ 5]Догадываюсь, xnk у Вас вариант № 1 Так?

[ 6]Пожалуйста, прокомментируйте подробно изображенные на рисунке картинки!

[ 7]Какую же ВАХ Вы собираетесь «получить» каким способом??

[ 8]Каким же прибором Вы проводили «измерения»?

[ 9]Какие особенности (по асравненнию с другими) имеют эти модели?

[ 10]В чем заключается этот метод? Какие уравнения решаются с его использованием?

[ 11]То Вы можете сказать о «сходимости»?

[ 12]?

[ 13]Шаг очень большой!

[ 14]Какая разница в данном контексте между «смоделирована» и «рассчитано»?



Поделиться:




Поиск по сайту

©2015-2024 poisk-ru.ru
Все права принадлежать их авторам. Данный сайт не претендует на авторства, а предоставляет бесплатное использование.
Дата создания страницы: 2017-11-19 Нарушение авторских прав и Нарушение персональных данных


Поиск по сайту: