Рабочая программа №__
Учебной дисциплины Б3.21
«Методы и оборудование диагностики и контроля
Полупроводниковых приборов и ИМС»
Код и название направления подготовки: 210100 – «Электроника и наноэлектроника»
Профиль: «Микроэлектроника и твердотельная электроника»
Квалификация (степень) выпускника: бакалавр
Форма обучения: очная
Брянск 2014
Рабочая программа учебной дисциплины «Методы и оборудование диагностики и контроля полупроводниковых приборов и ИМС» для направления подготовки: 210100 – «Электроника и наноэлектроника»
Разработал:
доцент, к.т.н. ______________________ /Матюшков С.Ю./
Рассмотрена и одобрена на заседании кафедры
от «__» ______________ 2014., протокол № __
Заведующий кафедрой
к.т.н., доцент ______________________ /Малаханов А.А./
Согласовано:
Начальник учебно-методического управления
д.т.н., профессор ______________________ /Реутов А.А./
© Матюшков С.Ю.
© ФГБОУ ВПО «Брянский государственный
технический университет»
Предисловие
Дисциплина «Методы и оборудование диагностики и контроля полупроводниковых приборов и ИМС» относится к дисциплинам по выбору студента (профессиональный цикл) для специальности 210100 «Электроника и наноэлектроника».
Дисциплина базируется на знаниях полученных обучаемыми в рамках дисциплин математического, естественнонаучного и профессионального цикла и направлена на получение теоретических знаний и практических навыков в области контроля качества изделий микроэлектроники.
Цель освоения дисциплины
Цель дисциплиныпреподавания дисциплины является специальная подготовка студентов в области контроля качества при разработке и массовом производстве полупроводниковых приборов и интегральных микросхем, ознакомление их с современными методами и оборудованием автоматического контроля электрических параметров.
Основные задачи дисциплины:
· освоение теоретических основ и методов автоматического контроля электрических параметров полупроводниковых приборов и интегральных микросхем различных типов,
· изучение принципов составления программ контроля электрических параметров наиболее распространенных классов полупроводниковых приборов и интегральных схем,
· получение представления о структуре и функциональном составе автоматизированных систем контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, номенклатуре отечественного и зарубежного контрольно-испытательного оборудования.
Место дисциплины в структуре ООП бакалавриата
Дисциплина имеет практическую направленность, характеризующуюся активным использованием ранее приобретенных знаний и навыков в областях электротехники, микроэлектроники, физики твердого тела и метрологии.
Знания и навыки, полученные при изучении дисциплины необходимы для последующего усвоения учебного материала дисциплин профессионального цикла и обуславливают формирование представления о технологическом контроле в области микроэлектроники.
Компетенции обучающихся, формируемые в результате освоения дисциплины
| Коды компетенций по ФГОС ВПО | Наименование компетенции | Результат освоения |
| ПК Профессиональные компетенции | ||
| ПК-3 | Готовность учитывать современные тенденции развития электроники, измерительной и вычислительной техники, информационных технологий в своей профессиональной деятельности | Знать: номенклатуру отечественного и зарубежного контрольно-испытательного оборудования, применяемого при разработке и производстве полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Уметь: формировать требования к основным параметрам контрольно-испытательного оборудования. Владеть:навыками информационного обеспечения процесса контроля параметров полупроводниковых изделий. |
| ПК-14 | Способность выполнять работы по технологической подготовке производства материалов и изделий электронной техники | Знать: основные методы автоматического контроля электрических параметров полупроводниковых приборов и интегральных микросхем различных типов. Уметь: составлять программу контроля электрических параметров наиболее распространенных классов полупроводниковых приборов и интегральных схем. Владеть: навыками выбора рациональный вариант технической реализации отдельных функциональных устройств системы контроля. |
| ПК-16 | Готовность организовывать метрологического обеспечение производства материалов и изделий электронной техники | Знать: требования к программам диагностики и характеристикам контрольного и вспомогательного оборудования. Уметь: использовать способы нахождения оптимальных решений при создании продукции с учетом требований стандартизации, сертификации, качества и конкурентоспособности; правильно выбирать номенклатуру измеряемых и контролируемых величин, средств измерений и контроля, методик измерений и поверки средств измерений. Владеть:навыками оценки качество измерений и контроля и его влияния на качество продукции. |