Инициалы и фамилия(и) автора(ов).
3. Аффилиация должна состоять из названия организаций, в которых работает автор, адрес (улица, номер дома), индекс, город, страна, электронный адрес. Если авторов публикации несколько, то информация повторяется для каждого автора. Необходимо указать контактного автора (corresponding author) в английском блоке после аффилиации.
4. Аннотация (объем 90–200 слов). Аббревиатуры следует разворачивать.
6. Ключевые слова – одиночные слова и словосочетания в именительном падеже. Рекомендуемое количество 5–7. Ключевые слова отделяются друг от друга точкой с запятой. Следует избегать использования аббревиатур.
7. Текст публикации. В тексте не должно быть нераскрытых аббревиатур. При упоминании в тексте наименований международных проектов, программ, грантов обязательно указывается их полное наименование и перевод на русский язык.
8. Библиографические ссылки. Список источников оформляется в соответствии с ГОСТ СТБ 7.208-2008 «Библиографическая ссылка». В образце приведены примеры оформления библиографических источников: статей, материалов и тезисов конференций, книг.
9. Требования к рисункам. Рисунки должны быть четкими и качественными, не цветными. Графические материалы (рисунки и фотографии) должны быть выполнены в графическом редакторе (Word, Corel Draw, Photoshop и т. п.) и расположены в тексте после ссылок на них. Минимально допустимое разрешение – 300 dpi. Рекомендуется также представлять рисунки отдельными файлами в формате:.jpg/.cdr/.tiff/.xls или.psd (Adobe Photoshop) (без склеивания слоев!). Подрисуночные подписи (шрифт 9 п.) не должны дублироваться в тексте, номер и название рисунка должны быть доступны для редактирования. Подрисуночные подписи располагаются под рисунком (можно сбоку от него). На рисунках и в подрисуночных подписях буквенные обозначения выделяются курсивом (например а, б, в), цифры – прямым шрифтом. Рекомендуемый шрифт в рисунках: Times New Roman, размер – не менее 10 п. Рисунки нумеруются в соответствии с порядком их цитирования в тексте. Единственный рисунок в статье не нумеруется.
10. Требования к таблицам. Таблицы приводятся после абзацев, содержащих ссылку на них. Название и текст таблицы – 10 п. Каждая таблица должна иметь краткое название и ссылки в тексте (например: табл. 1). Единственная таблица в тексте не нумеруется. Использованные в таблице сокращения подлежат расшифровке в конце таблицы.
11. Требования к формулам. Формулы должны быть набраны в программе Microsoft Equation, входящей в состав Word, и расположены по центру страницы, номера формул даются в круглых скобках и выравниваются по правому краю. Обязательное расстояние между формулами и текстом – 1 интервал. Нумеровать следует наиболее важные формулы, на которые имеются ссылки в последующем тексте. Обозначения физических величин даются курсивом, математические символы типа lim, lg, max, exp, cos, tg, критерии вида Nu, Re и другие, цифры, число 0 – прямым шрифтом; греческие – прямым шрифтом. В публикациях на русском языке в десятичных дробных числах дробная часть отделяется запятой (например, 4,27) в отличие от публикаций на английском языке, где она отделяется точкой (4.27).
Образец оформления русского блока и следующего за ним английского
модификация приповерхностных слоев
полиэтилентерефталата и полиимида
имплантацией ионов никеля
Д. И. Бринкевич1, С. А. Вабищевич2, В. Ф. Валеев3, В. С. Волобуев1,
Ф. А. Нажим3, М. Г. Лукашевич3, Р. И. Хайбуллин3, В. Б. Оджаев3
1) Белорусский государственный университет, пр. Независимости, 4, 220030 Минск, Беларусь,
e-mail: Lukashevich@bsu.by
2) Казанский физико-технический институт, Сибирский тракт 10/7,420029 Казань, Россия,
e-mail: rik@kfti.knc.ru
3) Полоцкий государственный университет, ул. Блохина, 29, 211440 Новополоцк, Беларусь,
e-mail: vabser@tut.by
При имплантации ионов Ni с энергией 40 кэВ в полиимид и полиэтилентерефталат критической дозой для изменения ряда физико-механических свойств приповерхностного слоя является 1×1017 см-2. При указанной дозе имплантации имело место кардинальное изменение морфологии поверхности полимеров, резкое увеличение шероховатости поверхности, наблюдался переход от пластичного к хрупкому поведению материала, формировался приповерхностный слой с повышенной микротвердостью.
Ключевые слова: полиимид; полиэтилентерефталат; имплантация ионами никеля; свеллинг.
Modification of surface layers of polyethyleneterephthalate
and polyimide by nickel ion implantation
D. I. Brinkevich1, S. A. Vabischevich3, V. F. Valeev3, V. S. Volobuev1,
F. A. Najim1, M. G. Lukashevich1, R. I. Rhaibullin2, V. B. Odzaev1
1) Belarusian State University, Nezavisimosti av. 4, 220030 Minsk, Belarus,
2) Kazan Physicotechnical Istitute, Sibirski trakt 10/7,420029 Kazan, Russia,
3) Polotski State University,Blohina str. 29, 211440 Novopolotsk, Belarus,
Corresponding author: M. G. Lukashevich (Lukashevich@bsu.by)
Structure characteristics of near-surface layer of polyethyleneterephthalate and polyimide films implanted by 40 keV nickel ion in the fluence range 1×1017 cm-2 have been carried out using atomic and magnetic force microscopy and microhardness measurement. Change of roughness, hardness as well as structure near-surface layer have been observed.
Key words: polyimide, polyethyleneterephthalate, implantation with nickel ions, swelling.
ВВЕДЕНИЕ
(в названиях пунктов размер шрифта – 10 pt)
Текст (10,5 pt)
МАТЕРИАЛЫИ МЕТОДЫ
РЕЗУЛЬТАТЫИ ОБСУЖДЕНИЕ
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА
(в списке размер шрифта – 9 pt)
Статьи
(авторов ≤ 3)
Челядинский, А.Р. Дефектно-примесная инженерия в имплантированном кремнии / А.Р. Челядинский, Ф.Ф. Комаров // УФН. — 2003. — Т. 173, № 8. — С. 813—846.
Низкочастотная электроемкость полупроводникового диода с прыжковой электропроводностью по трехзарядным дефектам / Н.А. Поклонский, А.И. Ковалев, С.А. Вырко // Докл. Нац. акад. наук Беларуси.— 2017.— Т. 61, № 4.— С. 52–59.
(авторов > 3)
Излучательный распад триона в квантовой яме полупроводниковой гетероструктуры / Н.А. Поклонский [и др.] // ЖПС.— 2017.— Т. 84, № 4.— С. 586—594.
Reflectivity of planar metallic fractal patterns / L. Zhou [et al.] // Appl. Phys. Lett. — 2003. — V. 82, № 7. —P. 1012—1014.
Linear and nonlinear magneto-optical absorption coefficients and refractive index changes in graphene / C.V. Nguyen [et al.] // Opt. Mater.— 2017.— V. 69.— P. 328—332.
Magneto-optical transport properties of monolayer MoS2 on polar substrates / C.V. Nguyen [et al.] // Phys. Rev. B.— 2017.— V. 96, № 12.— P. 125411 (14 pp.).
Материалы конференций
Расчет подвижности дырок в вырожденных полупроводниках p -типа / А.Н. Деревяго // Физика конденсированного состояния: материалы XXV междунар. науч.-практ. конф. аспир., магистр. и студ. (Гродно, 20 апр. 2017 г.) / ГрГУ им. Я. Купалы, физ.-техн. фак.; редкол.: В.Г. Барсуков (гл. ред.) [и др.].— Гродно: ГрГУ, 2017.— С. 142—144.
Метаматериал из нанорулонов графена и нитрида бора с отрицательной магнитной проницаемостью / А.И. Сягло, Н.А. Поклонский, С.А. Вырко, А.Т. Власов, С.В. Раткевич, Д.А. Туан, Д.Н. Широкий // Квантовая электроника: матер. XI Междунар. науч.-техн. конф., Минск, 13–17 нояб. 2017 г.— Минск: РИВШ, 2017.— С. 59—60.
О природе полосы «1630 см−1» в спектрах комбинационного рассеяния алмазов / А.А. Хомич, И.И. Власов, О.А. Шендерова, О.Н. Поклонская, А.Н. Деревяго, А.А. Аверин, А.Ф. Попович, Р.А. Хмельницкий, С.А. Вырко, А.В. Хомич // Взаимодействие излучений с твердым телом (ВИТТ-2017): матер. 12-й Междунар. конф., Минск, Беларусь, 19—22 сент. 2017 г. / редкол.: В.В. Углов (отв. ред.) [и др.].— Минск: Изд. центр БГУ, 2017.— С. 78—80.
Inversion of the SnPc molecule on graphene / N.A. Poklonski, S.A. Vyrko, S.V. Ratkevich, A.I. Siahlo // Physics, Chemistry and Applications of Nanostructures. Reviews and Short Notes: Proc. of the Int. Conf. Nanomeeting-2017, Minsk, 30 May – 2 June 2017 / Eds. V.E. Borisenko [et al.].— Singapore: World Scientific, 2017.— P. 65—68.
Тезисы конференций
Quantum capacity of zigzag graphene nanoribbon passivated by boron and hydrogen atoms at edges / N.A. Poklonski, S.V. Ratkevich, A.I. Siahlo, S.A. Vyrko // Book of Abstracts of 13th Int. Conf. Advanced Carbon NanoStructures (ACNS’2017), Saint-Petersburg, July 3–7, 2017 / Ioffe Institute.— St. Petersburg, 2017.— P. 243.
Электро- и магнитомеханика полупроводниковых систем / Н.А. Поклонский // Междунар. зимняя школа по физике полупроводников 2017: науч. прогр. и тез. докл., С.-Петербург — Зеленогорск, 3–6 марта 2017 г.— СПб.: ФТИ им. А.Ф. Иоффе РАН, 2017.— С. 37—40.
Книги
Технология СБИС: в 2-х кн. / под ред. С. Зи. — М.: Мир, 1986. — Кн. 1. —404 с.; Кн. 2. — 453 с.
Милнс, А Примеси с глубокими уровнями в полупроводниках / А. Милнс. — М.: Мир, 1977. — 562 с.
Impedance spectroscopy: Theory experiment and applications / Ed. By E. Barsoukov, J.R. Macdonald. — New York: Wiley, 2005. — 595 p.