Требования к контрольно-измерительной аппаратуре




М Е Ж Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н ЫЙ С Т А Н Д А Р Т


ГОСТ

IEC/TR 60825-13—


 

БЕЗОПАСНОСТЬ ЛАЗЕРНОЙ АППАРАТУРЫ

Часть 13

Измерения для классификации лазерной аппаратуры

(IEC/TR 60825-13:2011, ЮТ)

Издание официальное

 

М осква Стендартинф орм 2016


 

ГОСТ IEC/TR 60825-13—2016

 

Предисловие

Цели, основные принципы и основной порядок проведения работ по межгосударственной стан­ дартизации установлены в ГОСТ 1.0—2015 «Межгосударственная система стандартизации. Основные положения» и ГОСТ 1.2—2015 «Межгосударственная система стандартизации. Стандарты межгосудар­ ственные. правила и рекомендации по межгосударственной стандартизации. Правила разработки, при­ нятия. обновления и отмены»

 

Сведения о стандарте

 

1 ПОДГОТОВЛЕН Автономной некоммерческой организацией «Научно-технический центр серти­ фикации электрооборудования «ИСЭП» (АНО «НТЦСЭ «ИСЭП») на основе собственного перевода на русский язык англоязычной версии документа, указанного в пункте 5

 

2 ВНЕСЕН Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии

 

3 ПРИНЯТ Межгосударственным советом по стандартизации, метрологии и сертификации (про­ токол от 28 июня 2016 г. N9 49)

За принятие проголосовали:

 

Краткое наименование страны по МК {ИСО 31661004-97 Код страны по МК (ИСО 3160)004-97 Сокращенное наименование национального органа по стандартизации
Армения AM Минэкономики Республики Армения
Беларусь BY Госстандарт Республики Беларусь
Казахстан КZ Госстандарт Республики Казахстан
Киргизия KG Кыргызстзндарт
Россия RU Росстандарт

 

4 Приказом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 01 ноября 2016 г. N 1551-сг межгосударственный стандарт ГОСТ IEC/TR 60825-13—2016 введен е действие в ка­ честве национального стандарта Российской Федерации с 1 ноября 2017 г.

 

5 Настоящий стандарт идентичен международному документу IEC/TR 60825-13:2011 «Без­ опасность лазерной аппаратуры. Часть 13. Измерения для классификации лазерной аппаратуры» («Safety of laser products — Part 13: Measurements for classification of laser products». IDT).

Международный документ разработан Техническим комитетом 76 МЭК «Безопасность оптическо­ го излучения и лазерное оборудование» Международной электротехнической комиссией (IEC). Офици­ альные экземпляры международного документа, на основе которого подготовлен настоящий межгосу­ дарственный стандарт, и международные стандарты, на которые даны ссылки имеются в Федеральном информационном фонде технических регламентов и стандартов.

При применении настоящего стандарта рекомендуется использовать вместо ссылочных между­ народных стандартов соответствующие им межгосударственные стандарты, сведения о которых при­ ведены в дополнительном приложении ДА

 

6 ВВЕДЕН ВПЕРВЫЕ

 

 

II


 

ГОСТ IEC/TR 60825*13—2016

 

Информация об изменениях к настоящему стандарту публикуется в ежегодном информаци­ онном указателе «Национальные стандарты», а текст изменений и поправок — в ежемесячном информационном указателе "Национальные стандарты». В случае пересмотра (замены) или от­ мены настоящего стандарта соответствующее уведомление будет опубликовано в ежемесячном информационном указателе «Национальные стандарты». Соответствующая информация, уведом­ ление и тексты размещаются также в информационной системе общего пользованияна офи­ циальном сайте Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии е сети Интернет (www.gost.nj)

© Стандартинформ, 2016

 

8 Российской Федерации настоящий стандарт не может быть полностью или частично воспроиз­ веден. тиражирован и распространен в качестве официального издания без разрешения Федерального агентства ло техническому регулированию и метрологии


 

ГОСТ IEC/TR 60825-13—2016

 

Содержание

1 Область применения...................................................................................................................................................................... 1

2 Нормативные ссылки..................................................................................................................................................................... 1

3 Термины и определения................................................................................................................................................................ 1

4 Применимость................................................................................................................................................................................. 2

4.1 Общие положения................................................................................................................................................................. 2

4.2 Предварительное рассмотрение........................................................................................................................................ 2

5 Требования к контрольно-измерительной аппаратуре............................................................................................................. 4

6 Алгоритм классификации.............................................................................................................................................................. 4

7 Параметры для расчета пределов допустимого уровня иэлучения/эмиссии..................................................................... 7

7.1 Длина волны. А....................................................................................................................................................................... 7

7.2 Источники с множеством длин волн................................................................................................................................... 8

7.3 Источники с широким спектром........................................................................................................................................... 9

7.4 Временные характеристики источника............................................................................................................................. 11

7.5 Стягиваемый угол, о..................................................................................................................... 13

7.6 Длительность излучения/эмиссии..................................................................................................................................... 23

7.7 Условия измерений.............................................................................................................................................................. 23

7.8 Сканирующие пучки............................................................................................................................................................. 28

Приложение А (справочное) Примеры.......................................................................................................................................... 34

Приложение В (справочное) Полезные преобразования........................................................................................................... 49

Приложение ДА (справочное) Сведения о соответствии ссылочных международных стандартов

межгосударственным стандартам.............................................................................................................. 50

Библиография................................................................................................................................................................................... 51

 

 

IV


 

ГОСТ IEC/TR 60825*13—2016

 

Введение

1) Международная электротехническая комиссия (МЭК) является международной организацией по стандартизации, объединяющей все национальные электротехнические комитеты (национальные комитеты МЭК). Задачей МЭК является продвижение международного сотрудничества во всех вопро­ сах. касающихся стандартизации в области электротехники и электроники. Результатом этой работы и в дополнение к другой деятельности МЭК является издание международных стандартов, техниче­ ских требований, технических отчетов, публично доступных технических требований (PAS) и руководств (в дальнейшем именуемых «публикации МЭК»). Их подготовка поручена техническим комитетам. Лю­ бой национальный комитет МЭК. заинтересованный в объекте рассмотрения, может участвовать в этой предварительной работе. Международные, правительственные и неправительственные организации, кооперирующиеся с МЭК, также участвуют в этой подготовке. МЭК близко сотрудничает с Международ­ ной организацией по стандартизации (ИСО) в соответствии с условиями, определенными соглашением между этими двумя организациями.

2) Формальные решения или соглашения МЭК означают выражение положительного решения технических вопросов, практически международный консенсус в соответствующих областях, так как у каждого технического комитета есть представители ото всех заинтересованных национальных комите­ тов МЭК.

3) Публикации МЭК имеют форму рекомендаций для международного использования и при­ нимаются национальными комитетами МЭК в этом качестве. Приложены максимальные усилия для того, чтобы гарантировать правильность технического содержания публикаций МЭК, однако МЭК не может отвечать за порядок их использования или за любое неверное толкование конечным поль­ зователем.

4) В целях содействия международной гармонизации, национальные комитеты МЭК обязуются применять публикации МЭК в их национальных и региональных публикациях с максимальной степенью приближения к исходным. Любые расхождения между любой публикацией МЭК и соответствующей на­ циональной или региональной публикацией должно быть четко обозначено в последней.

5) МЭК не устанавливает процедуры маркировки знаком одобрения и не берет на себя ответствен­ ность за любое оборудование, о котором заявляют, что оно соответствует публикации МЭК.

6) Все пользователи должны быть уверены, что они используют последнее издание этой публи­

кации.

7) МЭК или его директора, служащие или агенты, включая отдельных экспертов и членов его тех­

нических комитетов и национальных комитетов МЭК. не несут ответственности за любые причиненные телесные повреждения, материальный ущерб или другое повреждение любой природы, как прямое так и косвенное, или за затраты (включая юридические сборы) и расходы, проистекающие из использова­ ния публикации МЭК. или ее разделов, или любой другой публикации МЭК.

8) Следует обратить внимание на нормативные ссылки, указанные в настоящем стандарте. Ис­ пользование ссылочных международных стандартов является обязательным для правильного приме­ нения настоящего стандарта.

9) Следует обратить внимание на то. что имеется вероятность того, что некоторые из элементов настоящего стандарта могут быть предметом патентного права. МЭК не несет ответственности за иден­ тификацию любых таких патентных прав.

Основная задача технических комитетов МЭК состоит в подготовке международных стандартов. Однако технический комитет, когда им накоплены данные, отличающиеся по виду от той информации, которую обычно представляют в виде международного стандарта, например «современное состояние дел», может предложить опубликовать технический отчет.

IEC 60825-13. являющийся техническим отчетом, подготовлен Техническим комитетом 76 МЭК

«Безопасность оптического излучения и лазерное оборудование».

Настоящее второе издание отменяет и заменяет первое издание (ЕС 60825-13. опубликованное в 2006 году. Данное издание представляет собой технический пересмотр.

Настоящее издание включает следующие существенные технические изменения относительно

предыдущего издания:

В определения введены небольшие изменения и добавления: обновлен алгоритм классификации, уточнено содержание разделов, относящихся к видимым источникам, обновлена информация по скани­ рованию. и в приложения включено больше примеров и полезных преобразований.

V


 

ГОСТ IEC/TR 60825-13—2016

 

Текст настоящего стандарта основан на следующих документах:

 

Проект технического отчета Отчет о голосоаании
76/424/DTR 76/447/RVC

Полную информацию о голосовании по одобрению настоящего технического отчета можно найти е вышеприведенном отчете о голосовании.

Настоящая публикация разработана в соответствии с Директивами ИСО/МЭК. часть 2.

Настоящий технический отчет следует использовать совместно с IEC 60825-1:2007.

Перечень всех частей стандартов серии IEC 60825 под общим названием «Безопасность лазер­ ной аппаратуры» можно найти на сайте МЭК.

Комитет принял решение, что содержание настоящей публикации останется без измене­ ний до даты окончания сопровождения настоящей публикации, указанной на сайте МЭК с адресом https://webstore.iec.ch. в составе данных, относящихся к конкретной публикации. На это время публика­ ция будет:

- подтверждена заново;

- аннулирована;

- заменена пересмотренным изданием; или

- изменена.

 

VI


 

ГОСТ IEC/TR 60825-13—2016

М Е Ж Г О С У Д А Р С Т В Е Н Н ЫЙ С Т А Н Д А Р Т

 

БЕЗОПАСНОСТЬ ЛАЗЕРНОЙ АППАРАТУРЫ

 

Часть 13

 

Измерения для классификации лазерной аппаратуры

 

Safety of laser products. Part 13. Measurements for classification of laser products

 

Дата введения — 2017 —11 — 01

 

Область применения

Настоящий стандарт устанавливает практические рекомендации по методам проведения радио­ метрических измерений или методам анализа для обеспечения уровня излучения/эмиссии лазерной энергии в соответствии с IEC 60825-1:2007 и предназначен для изготовителей аппаратуры, испыта­ тельных центров, персонала, отвечающего за безопасность и т. л. Процедуры измерений, описанные в настоящем стандарте, применяют как руководство по классификации лазерной аппаратуры в соответ­ ствии с IEC 60825-1:2007. Допускается использовать другие процедуры, если они более совершенные или подходящие.

Информация приведена для расчета пределов допустимого(ой) излучения/эмиссии (AELs) и мак­ симально допустимого(ой) облучения/экспозиции (MPEs). т.к. некоторые параметры, используемые для расчета пределов, зависят от других измеряемых величин.

Настоящий стандарт распространяется на лазеры, включая протяженные источники и лазерные матрицы. Пользователи настоящего стандарта должны быть уверены, что приведенные в нем процеду­ ры условий наблюдения для протяженных источников могут обеспечить более устойчивые результаты, чем результаты, полученные при использовании более строгих/точных методов.

Примечание — Продолжается работа над более полными методами оценки источнжов и результаты будут представлены по достижении международного согласия по этим методам.

 

Нормативные ссылки

Для применения настоящего стандарта необходимы следующие ссылочные документы. Для да­ тированных ссылок применяют только указанное издание ссылочного документа, для недатированных ссылок применяют последнее издание ссылочного документа (включая любые изменения).

IEC 60825-1:2007 Safety of laser products — Part 1: Equipment classification and requirements (Без­ опасность лазерной аппаратуры. Часть 1. Классификация оборудования и требования)

 

Термины и определения

В настоящем стандарте применены термины и определения, приведенные в IEC 60825-1:2007. а также следующие термины с соответствующими определениями.

3.1 угловая скорость (angular velocity): Скорость сканирующего пучка в радианах в секунду.

3.2 профиль пучка (beam profile): Распределение плотности потока изпучения/энергетической освещенности сечения пучка.

3.3 перетяжка/сужение пучка (beam waist): Минимальный диаметр осесимметричного пучка.

Примечание 1 — При несимметричных пучках сужение может быть на каждой главной оси. каждое из которых находится на разном расстоянии от источника.

 

 

Издание официальное


 

ГОСТ IEC/TR 60825-13—2016

 

3.4 устройство с зарядовой связью, CCD (charge-coupled device. CCD): Самосканирующий по­ лупроводниковый формирователь изображения на основе применения МОП-технопогии (металл-оксид- полупроводник), использующий накопительную поверхность и осуществляющий передачу информации.

3.5 критическаяУпредельная частота (critical frequency): Частота повторения импульсов, выше которой импульсный лазер при проведении оценки лазерной опасности может быть смоделирован, как лазер непрерывного излучения.

3.6 профиль Гауссовых пучков (Gaussian beam profile): Профиль лазерного пучка, который ра­ ботает на поперечной моде низшего порядка ТЕМ00.

Примечание 1 — Профиль Гауссовых пучков также может создаваться при прохождении лазерных не- ТЕМод пучков через оптические элементы, формирующие пучок.

3.7 апертура измереиия/измерительная апертура (measurement aperture): Апертура, исполь­ зуемая для классификации лазера при определении мощности или энергии, которая сравнивается с пределом допустимого иэлучения/эмиссии (AEL) для каждого класса.

3.8 частота повторения импульсов, PRF (pulse repetition frequency. PRF): Количество импуль­ сов. возникающих за одну секунду, выраженное в герцах (Гц).

3.9 лазерный затвор/переключатель добротности (Q-switch): Устройство формирования очень

коротких лазерных импульсов с высокой пиковой мощностью за счет улучшения накопления энергии в среде лазерного излучения и сброса (демпинга) энергии из среды лазерного излучения.

3.10 лазер с модуляцией добротности (Q-switched laser): Лазер, излучающий короткие импуль­

сы с высокой пиковой мощностью с помощью лазерного затвора.

3.11 Релеевская длина, Z, (Rayleigh length. Z(): Расстояние от перетяжки/сужения пучка в направ­ лении распространения, на котором диаметр пучка или значения ширины пучка равны .\[2 ~от значения

в перетяжке пучка.

Примечание 1— Релеевской длиной часто называют У* конфокального параметра.

3.12 чувствительность, R (responsivity. R): Отношение сигнала на выходе детектора к соответ­ ствующему входному сигналу, выраженное как

R - О//.

где О — электрический выходной сигнал детектора:

I — оптическая мощность или энергия на входе.

3.13 лазер со сверхкороткими импульсами (ultrashort pulse laser): Лазер, излучающий импуль­ сы короче 100 фемтосекунд, который может вмещать относительно большой спектральный контент.

 

Применимость

4.1 Общие положения

Настоящий стандарт предназначен для использования в качестве основных рекомендаций (кото­ рыми он не ограничивается) для изготовителей, испытательных лабораторий, специалистов по технике безопасности и официальных лредстаеителей органов власти. В настоящем стандарте также приведе­ ны интерпретации стандарта IEC 60825-1:2007 в отношении вопросов измерений и приведена допол­ нительная пояснительная информация.

4.2 Предварительное рассмотрение

Предварительно перед началом выполнения радиометрических измерений с целью классифи­ кации аппаратуры или сравнения с другими применимыми требованиями IEC 60825-1:2007. следует определить несколько параметров лазеров:

а) дпину(ы)волны(волн)излучения

Лазеры могут создавать излучение на одной или более различающихся длинах волн.

Длину волны (длины волк) излучения или спектральное распределение излучения обычно можно узнать от изготовителя лазера. В зависимости от типа лазера изготовитель может указать диапазон длин волн, а не одно значение длины волны. В ином случае длину волны (длины волн) излучения или спектральное распределение излучения может быть определено посредством измерения, которое не входит в область рассмотрения настоящего стандарта. Оценки предела допустимого иэлучения/эмис­ сии (AEL) для кратных длин волн см. 7.1.


 

ГОСТ IEC/TR 60825*13—2016

 

b) временной режим работы

временной режим работы относится к режиму работы, при которой энергия излучается. Неко­ торые лазеры излучают непрерывную волну (CW). другие излучают энергию в виде импульсов. Им­ пульсные лазеры могут быть лазерами одиночных импульсов, с модуляцией добротности, импульсно- периодическими или с синхронизированными модами. Сканирующее или модулированное излучение непрерывной волны при фиксированном размещении также приводят к появлению последовательно­ сти импульсов.

Помимо этого, последовательность импульсов может быть кодированной, но иметь средний коэф­ фициент заполнения (время излучения как часть фактического времени работы, выраженное в деся­ тичной дроби или в процентах).

c) обоснованно прогнозируемые условия единичной неисправности

8 IEC 60825-1:2007 установлено, что испытания должны выполняться при всех без исключения обоснованно прогнозируемых условий единичной неисправности. Изготовитель обязан гарантировать, что при всех условиях единичной неисправности доступное излучение не превышает AEL заданного класса.

d) неопределенности измерения

важно рассмотреть потенциальные источники погрешности при измерении лазерного излучения.

Неопределенности измерений рассмотрены в разделе 5 настоящего стандарта.

e) сопутствующее излучение (определение термина «сопутствующее излучение» см. IEC 60825- 1:2007)

Сопутствующее излучение, проникающее в апертуру измерения, может влиять на измеренные значения мощности или энергии и длительность импульсов. Персонал, проводящий испытания, должен гарантировать, что измерительная установка блокирует сопутствующее излучение или учитывает его. если оно все же попадает на детектор.

0 конфигурация аппаратуры

Если измерения проводят в целях классификации, все органы контроля и установки, перечис­ ленные в рабочих инструкциях, инструкциях по техническому обслуживанию и эксплуатации, должны настраиваться совместно для получения максимального допустимого уровня излучения. Измерения следует проводить с использованием дополнительных приспособлений, которые могут увеличить ра­ диационную опасность (например, с коллимирующей оптикой), поставляемых или предлагаемых изго­ товителем лазерной(ых) аппаратуры для использования с такой(им) аппаратурой.

Примечание — Эго относится к любой конфигурации аппаратуры, которую можно получить без ис­ пользования инструментов или снятия блокировки, включая конфигурации и установки, относительно которых в рабочих инструкциях и инструкциях по техническому обслуживанию содержатся предупреждения об опасности. Например, если оптические элементы, такие как фильтры, рассеиватели или линзы, в оптической части лазерного пучка могут быть сняты без помощи инструмента, аппаратуру следует испытывать в конфигурации, при которой до­ стигается наивысший уровень опасности. Наличие 8 инструкции указания изготовителя не снимать оптические эле­ менты не может служить основанием для отнесения аппаратуры к болев низкому классу. Классификация основы­ вается на технической конструкции аппаратуры и не может быть основана на адекватном поведении пользователя.

Если измерения проводят для определения требований к защитным блокировкам, ярлыкам и ин­ формации для пользователя, то аппаратуру следует оценивать при конфигурациях, применимых для каждой из указанных категорий использования (функционирование, техническое обслуживание и сер­ висное обслуживание) е соответствии с IEC 60825-1:2007.

Технический комитет 76 МЭК (ТС 76) признает существование эквивалентных процедур измере­ ния. которые могут дать результаты, имеющие такую же достоверность, как и результаты процедур, при­ веденные в настоящем стандарте. 8 стандарте описаны процедуры измерений, которые необходимо проводить, в достаточной мере отвечающие требованиям к измерениям IEC 60825-1:2007. во многих случаях не обязательно проводить реальные радиометрические измерения, и соответствие требовани­ ям IEC 60625-1:2007 можно определить проведением анализа источника, имеющего хорошо описанные характеристики, и конструкции реальной аппаратуры.

Измерения допустимых уровней излучения необходимо проводить в точках пространства, к ко­ торым возможен доступ человека во время работы и обслуживания, в зависимости от необходимости. (Например, если для работы может потребоваться снять часть защитного корпуса и снять защитные блокировки, измерения требуется проводить в точках, доступных при такой конфигурации аппаратуры). Поэтому при некоторых обстоятельствах может потребоваться частично демонтировать аппаратуру, чтобы провести измерения в необходимом месте, в частности при рассмотрении обоснованно про­


 

ГОСТ IEC/TR 60825-13—2016

 

гнозируемых условий единичной неисправности. Если в состав конечной лазерной аппаратуры входит другая лазерная аппаратура или системы, то соответствовать положениям IEC 60825-1:2007 должна конечная аппаратура.

Измерения следует проводить детектором измерительного прибора, размещенным и ориентиро­ ванным относительно лазерной аппаратуры таким образом, чтобы прибор обнаруживал максимальное излучение. Т. е.. детектор необходимо перемещать или менять угол его наклона для получения макси­ мального показания прибора. Следует предпринять определенные меры, чтобы не допустить или ис­ ключить «вкладе сопутствующего излучения в результат измерения. Например, может потребоваться проводить измерения на некотором расстоянии от выхода лазерной системы, чтобы не допустить ис­ кажения данных при излучении от импульсных ламп или лазеров с диодов с накачкой/диодных лазеров.

8 качестве другого примера можно привести необходимость отфильтровать сопутствующее излучение линейным/сетевым фильтром.

 

Требования к контрольно-измерительной аппаратуре

Используемая контрольно-измерительная аппаратура должна соответствовать IEC 61040. Опре­ деление класса контрольно-измерительной аппаратуры, используемой при измерениях {от 1 класса до 20 класса, обеспечивающих приблизительное значение возможной неопределенности измерения) зависит от требуемой точности измерения.

При использовании контрольно-измерительной аппаратуры, которая не в полной мере соответ­ ствуют требованиям IEC 61040, следует оценивать отдельные вклады разных параметров в суммарную неопределенность измерения по отдельности.

Рассматривают основные положения, приведенные в IEC 61040. вопросы:

- изменение чувствительности от времени:

- неоднородность чувствительности по поверхности детектора:

* изменение чувствительности во время облучения:

- зависимость чувствительности от температуры;

- зависимость чувствительности от угла падения;

* нелинейность;

- зависимость чувствительности от длины волны:

- зависимость чувствительности от поляризации.

* погрешности при усреднении импульсно-периодического излучения во времени;

- дрейф нуля:

- неопределенность калибровки.

Калибровка должна быть прослеживаемой в соответствии с требованиями национальных стан­ дартов.

Испытания для определения неопределенностей измерения контрольно-измерительной аппара­

туры. должны выполняться согласно IEC 61040.

Определение неопределенностей измерения ССО-матриц (матриц с зарядовой связью) и камер см. ISO 11146-3.

 

Алгоритм классификации

Пределы допустимого(ой) иэлучения(эмиссии) (AEL) и условия измерения позволяют рассчитать известные или измеренные параметры аппаратуры. Дополнительно следует провести анализ условий неисправности, которые увеличивают опасность. Затем по измерению (или нескольким различным из­ мерениям) излучения (эмиссии) аппаратуры можно определить находится ли излучение{эмиссия) в установленных пределах AEL для рассматриваемого класса.

В таблицах 4 — 9 IEC 60825-1:2007 приведены пределы допустимого излучения (эмиссии) (AEL). В строках указанных таблиц приведены диапазоны длин волн, а в столбцах — длительность иэлучения(эмиссии). На пересечении каждой строки и каждого столбца указаны одна или несколько формул, е которых есть параметры, определенные в таблице 10IEC 60825-1:2007.

Алгоритм классификации представлен на рисунках 1 и 2. Первым шагом является использование стандартной упрощенной оценки согласно 9.3.2 IEC 60825-1:2007. В нем рассматривают пучок, который будет излучать малый (точечный) источник с коэффициентом Се = 1 — консервативный подход, если


 

ГОСТ IEC/TR 60825*13—2016

 

размер видимого источника неизвестен. Если выходной сигнал аппаратуры генерируется внешним ис­ точником и находится в диапазоне от 400 до 1400 нм и если класс, определенный по методу упрощен* ной оценки, неприемлем, то можно в качестве альтернативы класс определить на основании более комплексной оценки. Она включает использование дополнительных параметров, включая стягиваемый угол. or. в функции от расстояния, и угол приема при измерении. ур, при видимой фотохимической опас­ ности.

Первоначально следует определить, является лазер импульсным или лазером непрерывного из­ лучения. Если длительность импульсов больше 0,25 с. лазер считается лазером непрерывного излуче­ ния. Относительно лазеров непрерывного излучения действует алгоритм, приведенный на рисунке 1. а для импульсных лазеров — представленный на рисунке 2.

Затем следует определить длину волны.

Если лазер является импульсным или сканирующим, также должны быть определены ширина импульса (PW) и частота повторения импульсов (PRF).

Определить применимый класс или классы. Например, при применении низкой мощности в диа­ пазоне длин волн 400 — 700 нм. могут быть рассмотрены классы 1. 1М и 3R. Для источника с длиной волны в видимом диапазоне можно рассматривать классы 1.1М. 2. 2М и 3R.

Далее должна быть установлена временная база классификации. Временная база может быть определена на основе стандартного значения по умолчанию перечисление е) подраздела 8.3 IEC 60825-

1:2007 или установлена из определения параметра Т2 (таблица 10 IEC 60825-1:2007). или при рассмо­ трении конкретных временных свойств выходного сигнала рассматриваемой аппаратуры.

Эта информация необходима для определения содержания строк и столбцов таблиц 4 — 9 IEC 60825-1:2007. включая нужную формулу или формулы, и. следовательно, для определения значе­ ний AELs.

Затем должны быть определены условия измерений (9.3 и таблица 111EC 60825-1:2007). Для им­ пульсного лазера для обеспечения полного попадания в пределы AEL необходимо оценить несколько условий, приведенных в перечислении f) подраздела 8.3 IEC 60825-1:2007.

 

 
 

Рисунок 1 — Алгоритм классификации лазеров непрерывного излучения


 

ГОСТ IEC/TR 60825-13—2016

 
 

 

После определения AEL. необходимо оценить данные на выходе. Данные на входе может пред­ ставить изготовитель или они могут быть измерены непосредственно. Если их предоставляет изго­ товитель. то должно быть подтверждение, что измерения проводились в соответствии с разделом 9 IEC 60825-1:2007. Если допустимое излучение(эмиссия) меньше AEL. то лазер можно отнести к за­ данному классу. Для импульсного лазера AEL заданного класса применяют при всех длительностях иэлучения(эмиссии) в пределах временной базы.

Если допустимое излучение больше или равно AEL, следует выбрать AEL более высокого класса и провести оценку. Оценку повторяют до тех лор. пока не будет получено значение меньше AEL или лазерная аппаратура не будет отнесена к классу 4.

Систему оценивают в соответствии с IEC 60825-1:2007. чтобы гарантировать, что обосновано про­ гнозируемая единичная неисправность не может привести к тому, что лазер будет испускать излучение больше чем AEL для заданного класса. Если данный критерий выполнен, классификация лазера счи­ тается известной.

Примечания

1 При отнесении аппаратуры к определенному классу мажет быть установлено более едкого условия, которым должка соответствовать аппаратура. Например, в диапазоне длин волн 400 — 600 мы для отнесежя аппаратуры к како­ му-либо классу не должен быть превышен ни температурный, ни фотохимический предел (каждый со своими собствен­ ными условиями измерения). Также, если аппаратура имеет импульсный выходной сигнал, не должен быть превышен ни одьм из трех пределов (для одиночного импутъса. последовательности импульсов и средней мощности).


 

ГОСТ IEC/TR 60825*13—2016

 

2 Для протяженного источнжа AEL является функцией расстояния от источника. При проведении классифи­ кации следует использовать наиболее опасное расстояние.

3 Если требования, установленные для классов 1 или 2 не выполнены, можно оценить излучение аппара­

туры с использованием требований установленных для классов 1М или 2М. Если излучение аппаратуры соответ­ ствует требованиям для классов 1М или 2М. оно не обязательно должно отвечать требованиям установленных для класса 3R.

 



Поделиться:




Поиск по сайту

©2015-2024 poisk-ru.ru
Все права принадлежать их авторам. Данный сайт не претендует на авторства, а предоставляет бесплатное использование.
Дата создания страницы: 2019-11-19 Нарушение авторских прав и Нарушение персональных данных


Поиск по сайту: