Сканирующие зондовые микроскопы




Содержание

Введение

  • 1 История создания
  • 2 Разрешающая способность микроскопов
  • 3 Виды микроскопов
  • 4 Оптические микроскопы
  • 5 Электронные микроскопы
  • 6 Сканирующие зондовые микроскопы
  • 7 Галерея микроскопов
  • 8 Узлы и механизмы оптического микроскопа
  • 9 Рентгеновские микроскопы

Заключение

Список литературы


Введение

Микроскоп, 1876 год

Современный бинокуляр Olympus_SZIII Stereo microscope

Микроскопы 18 века

Микроско́п (греч. μικρός — маленький и σκοπέω — смотрю) — прибор, предназначенный для получения увеличенных изображений, а также измерения объектов или деталей структуры, невидимых или плохо видимых невооружённым глазом. Представляет собой совокупность линз.

Совокупность технологий изготовления и практического использования микроскопов называют микроскопией.


История создания

Первые микроскопы, изобретённые человечеством, были оптическими, и первого их изобретателя не так легко выделить и назвать. Самые ранние сведения о микроскопе относят к 1590 году и городу Мидделбург, что в Голландии, и связывают с именами Иоанна Липперсгея (который также разработал первый простой телескоп) и Захария Янсена, которые занимались изготовлением очков.[1] Чуть позже, в 1624-ом году Галилео Галилей представляет свой составной микроскоп, который он первоначально назвал «оккиолино»[2] (occhiolino итал. — маленький глаз). Годом спустя его друг по Академии Джованни Фабер (англ.)русск. предложил для нового изобретения термин микроскоп.


Разрешающая способность микроскопов

Разрешающая способность микроскопа - это способность микроскопа выдавать чёткое раздельное изображение двух близко расположенных точек объекта. Степень проникновения в микромир, возможности его изучения зависят от разрешающей способности прибора. Эта характеристика определяется прежде всего длиной волны используемого в микроскопии излучения (видимое, ультрафиолетовое, рентгеновское излучение). Фундаментальное ограничение заключается в невозможности получить при помощи электромагнитного излучения изображение объекта, меньшего по размерам, чем длина волны этого излучения.

«Проникнуть глубже» в микромир возможно при применении излучений с меньшими длинами волн.


Виды микроскопов

В зависимости от требуемой величины разрешения рассматриваемых микрочастиц материи, микроскопии, микроскопы разделяются на:

Оптические микроскопы
  • Ближнепольный оптический микроскоп
  • Конфокальный микроскоп
  • Двухфотонный лазерный микроскоп
Электронные микроскопы
  • Просвечивающий электронный микроскоп
  • Растровый электронный микроскоп
Сканирующий зондовый микроскоп
  • Сканирующий атомно-силовой микроскоп
  • Сканирующий туннельный микроскоп
Рентгеновские микроскопы
  • Рентгеновские микроскопы отражательные
  • Рентгеновские микроскопы проекционные
    • Лазерный рентгеновский микроскоп (XFEL)
Дифференциальный интерференционно-контрастный микроскоп  

Оптические микроскопы

Современный металлографический микроскоп Альтами МЕТ 3М

Человеческий глаз представляет собой естественную оптическую систему, характеризующуюся определённым разрешением, т. е. наименьшим расстоянием между элементами наблюдаемого объекта (воспринимаемыми как точки или линии), при котором они ещё могут быть отличны один от другого. Для нормального глаза при удалении от объекта на т. н. расстояние наилучшего видения (D = 250 мм), среднестатистическое нормальное разрешение составляет 0,176 мм. Размеры микроорганизмов, большинства растительных и животных клеток, мелких кристаллов, деталей микроструктуры металлов и сплавов и т. п. значительно меньше этой величины.

До середины XX века работали только с видимым оптическим излучением, в диапазоне 400—700 нм, а также с ближним ультрафиолетом (люминесцентный микроскоп). Оптические микроскопы не могли давать разрешающей способности менее полупериода волны опорного излучения (диапазон длин волн 0,2—0,7 мкм, или 200—700 нм). Таким образом, оптический микроскоп способен различать структуры с расстоянием между точками до ~0,20 мкм, поэтому максимальное увеличение, которого можно было добиться, составляло ~2000 крат.


Электронные микроскопы

Электронный микроскоп

Электрон, обладающий свойствами не только частицы, но и волны, может быть использован как опорное излучение в микроскопии.

Длина волны электронного излучения зависит от его энергии, а энергия электрона равна E = Ve, где V — разность потенциалов, проходимая электроном, e — заряд электрона. Длины волн электронного излучения при прохождении разности потенциалов 200 000 В составляет порядка 0,1 нм. Электронное излучение легко фокусировать электромагнитными линзами, так как электрон — заряженная частица. Электронное изображение может быть легко переведено в видимое.


Сканирующие зондовые микроскопы

Класс микроскопов основанных на сканировании поверхности зондом.

Сканирующие зондовые микроскопы (СЗМ) — относительно новый класс микроскопов. На СЗМ изображение получают путем регистрации взаимодействий между зондом и поверхностью. На данном этапе развития возможно регистрировать взаимодействие зонда с отдельными атомами и молекулами, благодаря чему СЗМ по разрешающей способности сопоставимы с электронными микроскопами, а по некоторым параметрам превосходят их.

Галерея микроскопов

Лабораторные микроскопы

Бинокулярные лабораторные микроскопы

Оптическая схема стереонасадки микроскопа

Стереоскопический микроскоп

Микроскопические объективы

Микроскопические объективы

Микроскопические объективы

Окуляры микроскопа

Окуляры с микрометрической шкалой

Окуляры стереомикроскопа




Поделиться:




Поиск по сайту

©2015-2024 poisk-ru.ru
Все права принадлежать их авторам. Данный сайт не претендует на авторства, а предоставляет бесплатное использование.
Дата создания страницы: 2017-06-11 Нарушение авторских прав и Нарушение персональных данных


Поиск по сайту: