1. Разделы кристаллографии (геометрическая, ростовая, химическая, физическая, дифракционная). Цель и задачи каждого раздела и междисциплинарность кристаллографии.
2. Общая характеристика физических методов исследования вещества. Дифракционные методы и их специфика. Объекты исследования дифракционными методами в зависимости от вида излучения.
3. Предложить методологию изучения аморфных веществ дифракционными методами.
4.Методы определения атомно-кристаллической структуры монокристаллов: Метод минимизации функционала; Объекты исследования; Теоретический аппарат; Особенности метода; Примеры
5. Объекты исследования дифракционными методами и описание специфики их строения: твердые вещества (с кристаллическим и некристаллическим строением; апериодические структуры), расплавы, жидкости, газы. Состояния кристаллического вещества.
6. Предложить методологию изучения нанокристаллических веществ дифракционными методами.
7. Основы дифракционной кристаллографии: амплитуда рассеяния и интенсивность отражения. Теоретический аппарат
8. Понятие структуры и связь каждого понятия с конкретными методами (методиками) исследования: макроструктура, микроструктура, кристаллическая структура, электронная структура.
9. Предложить методологию изучения паракристаллических веществ (полимеры) дифракционными методами.
10. Метод радиального распределения атомов (электронной плотности): Объекты исследования; Теоретический аппарат; Возможности метода; Примеры
11. Два этапа структурного анализа: особенности каждого этапа, решаемые задачи, примеры
12. Предложить методологию изучения монокристаллических объектов дифракционными методами.
13. Составные части дифракционного (рентгеновского, нейтронного, электронного; с использованием синхротрона) эксперимента: Источники излучения; Характеристики излучения
14. Первый этап структурного анализа. Фотометоды. Методы изучения монокристаллов. Метод Лауэ; Схема метода; Возможности метода; Примеры
15. Предложить методы определения кристаллической структуры монокристаллического объекта дифракционными методами в зависимости от его состава.
16. Составные части дифракционного (рентгеновского) эксперимента: Процессы, проходящие внутри образца: когерентное (упругое) и некогерентное рассеяние, аномальное рассеяние; поглощение; Регистрация вторичного (рентгеновского) излучения.
17. Первый этап структурного анализа. Фотометоды. Методы изучения монокристаллов. Метод качания (вращения); Схема метода; Возможности метода; Примеры
18. Предложить методологию изучения поликристаллических объектов дифракционными методами.
19. Составные части дифракционного (рентгеновского) эксперимента: Анализ дифракционной картины (всех видов изучаемых веществ дифракционными методами)
20. Первый этап структурного анализа. Фотометоды. Методы изучения монокристаллов. Рентгенгониометрический метод; Схема метода; Возможности метода; Примеры
21. Предложить методы определения (уточнения, проверки) кристаллической структуры поликристаллического объекта дифракционными методами в зависимости от его состава.
22. Метод малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР): Объекты исследования; Теоретический аппарат; Схема метода; Возможности метода;
23. Второй этап структурного анализа. Ионизационный метод. Условия монокристального эксперимента. Этапы эксперимента.
24. Предложить методы (методики) определения (уточнения, проверки) кристаллической структуры нанокристаллического объекта дифракционными методами в зависимости от его состава и размерности.
25. Теоретическое обоснование изменения дифракционной картины при переходе от поликристаллического к нанокристаллическому и аморфному состояниям. Типы и причины искажения дифракционных отражений.
26. Методы определения атомно-кристаллической структуры монокристаллов: Метод проб и ошибок; Особенности метода; Возможности метода; Примеры
27. Предложить дифракционные методы (методики) определения параметров элементарной ячейки образцов в разном кристаллическом состоянии
28. Основы дифракционной кристаллографии: Параметры волны. Интерференция волн. Дифракционный эффект. Дифракция по Брэггу и Лауэ
29. Методы определения атомно-кристаллической структуры монокристаллов: Метод межатомной функции (метод Патерсона); Объекты исследования; Теоретический аппарат; Особенности метода; Примеры
30. Описать проведение рентгенографического фазового анализа веществ. Отметить специфику качественного и количественного анализа в зависимости от состава и состояния изучаемого объекта
31. Основы дифракционной кристаллографии: амплитуда рассеяния в зависимости от вида излучения. Сопоставление и анализ.
32. Методы определения атомно-кристаллической структуры монокристаллов: Прямые (статистические методы); Объекты исследования; Теоретический аппарат; Особенности метода; Примеры
33. Определение, уточнение и проверка атомно-кристаллической структуры. Цель; Объекты исследования; Возможности; Этапы
34. Основы дифракционной кристаллографии: Структурная амплитуда и интенсивность отражения; Теоретический аппарат; Анализ формул
35. Рентгенография: Объекты исследования. Схема метода. Особенности метода. Специфические задачи, решаемые методами рентгенографии.
36. Описать и проанализировать методы (методики) определения и уточнения параметров элементарной ячейки. Прецизионное определение параметров ячейки. Надежность определения и уточнения параметров ячейки
37. Составные части дифракционного (рентгеновского) эксперимента: Характеристики рентгеновского излучения; Выбор излучения; Монохроматоры
38. Нейтронография: Объекты исследования. Схема метода. Особенности метода. Специфические задачи, решаемые методами нейтронографии.
39. Перечислить и проанализировать условия получения качественного поликристаллического дифракционного эксперимента и критериев оценки.
40. Основы дифракционной кристаллографии: закон дифракции, обратная решетка и сфера отражения Эвальда.
41. Поликристаллический эксперимент: Условия эксперимента (выбор, учет, пробоподготовка); Дифрактограмма и ее расчет; Возможности порошковой дифрактометрии (с примерами)
42. Предложить методологию изучения поликристаллического вещества дифракционными методами в зависимости от его состава и конечной цели исследования.
43. Теоретическое обоснование изменения дифракционной картины при переходе от поликристаллического к нанокристаллическому состоянию. Типы и причины искажения дифракционных отражений.
44. Электронография: Объекты исследования. Схема метода. Особенности метода. Специфические задачи, решаемые методами электронографии.
45. Предложить методологию изучения нанокристаллического вещества дифракционными методами в зависимости от его состава, размерности и конечной цели исследования.
46.Основы дифракционной кристаллографии: законы погасания; закон центросимметричности
46. Рентгеновская дифрактометрия нанообъектов: Объекты исследования; Схема и условия эксперимента; Анализ дифракционной картины; Возможности метода; Примеры.
47. Предложить методологию изучения монокристаллического объекта дифракционными методами в зависимости от его состава и конечной цели исследования.
48. Основные формулы структурного анализа с их интерпретацией. Фазовая проблема и ее решение.
49. Монокристаллический эксперимент: Условия эксперимента (выбор, учет, пробоподготовка); Установка и схема метода; Последовательность (этапы) эксперимента; Возможности монокристальной дифрактометрии (с примерами специфических решаемых задач)
50. Предложить методологию изучения аморфного вещества дифракционными методами в зависимости от его состава и конечной цели исследования.