1. Цель технической диагностики. Классификацию задач диагностирования.
2. Принципы организации систем тестового и функционального диагноза.
3. Методы и процедуры алгоритмов диагноза для проверки неисправности, работоспособности и правильности функционирования, а также для поиска неисправностей различных технических объектов
4. Понятие о логической модели. Логическая модель и ее использование для определения неисправности.
5. Требования к функциональной схеме ОД для формирования ее логической модели. Способ определения контрольных точек для измерения сигналов при поиске неисправности.
6. Самоконтроль и самодиагностика.
7. Методы построения самопроверяемых схем контроля.
8. Встроенные средства автоматического диагностирования.
9. Примеры самопроверяемых схем.
10. Методы поэлементного контроля.
11. Задачи поэлементного контроля при создании системы автоматизации диагностирования.
12. Способы определения параметров многоэлементной многополюсной цепи, биполярных транзисторов.
13. Основные электрические режимы получения установочных и тестовых наборов для проверки ИС.
14. Структура и технические характеристики систем внутрисхемного диагностирования.
15. Основные задачи решаемые при разработке СПД.
16. Контактное приспособление-средство надежногоконтактирования с ОД.
17. Типы контактных приспособлений.
18. Способы снижения погрешности измерений при поэлементном диагностировании. Примеры схем измерений.
19. Системы диагностирования с управляемым зондом.
20. Системы диагностирования с управляемым логическим зондом.
21. Состав и структура типовой системы автоматизации диагностирования (САД) цифровых схем с управляемым зондом.
22. Конструкции и функциональные возможности применяемых логических зондов. Способы поиска места неисправности.
23. Информационное и программное обеспечение САД.
24. Технические средства диагностирования.
25. Техническое обслуживание ПЗВМ.
26. Основные компоненты технического обслуживания.
27. Понятие о ROM BIOS.
28. Технические средства диагностирования ПЭВМ.
29. Сигнатурный анализатор (схемы, принцип работы).
30. Принципы сжатия данных, получения сигнатуры.
31. Применение сигнатурного анализа при диагностирования.
32. Логический анализатор (ЛА).
33. Функции многоканальной регистрации, запоминания и отображения информации о поведении устройств.
34. Применение и типы ЛА.
35. Понятие об анализаторе логических состояний и анализаторе временных диаграмм.
36. Метод внутренней эмуляции.
37. Внутрисхемный эмулятор.
38. Метод внутренней эмуляции.
39. Поиск неисправностей в микропроцессорных системах.
40. Возможности эмулятора и состав программных средств.
41. Диагностическая плата. Назначение диагностической платы.
42. Глубина тестирования, состав платы.
43. Преимущества использования диагностической платы для поиска неисправностей.
44. Стенды технологического контроля.
45. Схема технологического маршрута изготовления ПЭВМ и основные операции контроля.
46. Состав стендовой аппаратуры, используемой в процессе изготовления ПЭВМ для контроля электрических и функциональных характеристик ее узлов.
47. Тестопригодное проектирование. Понятие о тестопригодности схем.
48. Основные показатели тестируемости схемы. Определение численной оценки тестопригодности схем.
49. Правила тестопригодного проектирования.
50. Практические правила тестопригодного проектирования.
51. Примеры схем, используемых при тестопригодном проектировании.
52. Управление цепями сброса триггеров и регистров, использование мультиплексоров и цепей сканирования, линий блокировки и дополнительных входов.
53. Контроль оперативных запоминающих устройств.
54. Структурная схема и модель оперативного запоминающего устройства.
55. Неисправности запоминающих элементов.
56. Определение длины тестовой последовательности для контроля и диагностирования оперативных запоминающих устройств.
57. Типы тестов запоминающих устройств.
58. Понятия об адресном, шахматном, сканирующем, чередующем, чередующиеся столбцы 0 и 1, запись и запись/считывание вперед и назад, марширующем, дополнительной адресации, крест, бегущем, пинг-понг и галопирующем типах тестов.
59. Тестирование вычислительных сетей. Основные понятия и виды тестов.
60. Особенности организации тестирования.
61. Используемые технические и программные средства