Учебно-методические указания
По дисциплине
Физико-химические методы анализа
Направление подготовки/специальность 22.03.02 Металлургия
Красноярск 2017
ВВЕДЕНИЕ
Курс “Физико-химические методы анализа” преподается как дисциплина специальной профессиональной подготовки для студентов, обучающихся в СФУ по направлению 22.03.02 Металлургия.
Изучение физико-химических методов анализа прочно вошло в учебную работу многих вузов. Выполнение практических работ по физико-химическим методам анализа с привлечением знаний из соответствующих разделов физики, химии, математической статистики способствует установлению предметных связей, развивает навыки самостоятельной работы студентов, позволяет построить работу таким образом, чтобы учебные задачи перерастали в курсовые и дипломные работы. Данная дисциплина должна вооружить студентов разнообразными методиками химического эксперимента, приобрести опыт экспериментальной работы и реализовать теоретические знания на практике.
Целью освоения дисциплины является овладение современными физико-химическими методами анализа веществ и материалов разнообразной природы, такими как дифракционные, спектральные, электрохимические, термические, оптические и т.п.
Задачами изучения дисциплины являются:
- изучение основных принципов и методов физико-химического анализа веществ, материалов и изделий;
- приобретение знаний по использованию технических средств для измерения свойств и контроля качества веществ, материалов и изделий из них;
- получение комплекса знаний и навыков использования современных информационно-коммуникационных технологий, глобальных информационных ресурсов в научно-исследовательской и расчетно-аналитической деятельности.
1. ПРОГРАММА КУРСА
| № п/п | Название занятий и их содержание по темам | |
| Введение Предмет и задачи дисциплины. Основные методы физико-химического исследования вещества, материалов и изделий. Современная приборная и научно-методическая база | ||
| Раздел 1. Рентгеновские дифракционные методы анализа Теоретические основы дифракционных методов анализа. Природа рентгеновского излучения. Дифракция рентгеновского излучения, закон Вульфа-Брегга. Рентгенотехника: рентгеновские трубки и аппараты. Схема съемки по Брэггу-Брентано. Рентгеновский дифрактрометр XRD-7000S Shimadzu. Качественный фазовый анализ вещества сложного состава с использованием базы данных дифракционных стандартов в виде международной картотеки PDF-2. Количественный фазовый анализ веществ и материалов различной природы с помощью программного обеспечения информационно-поисковой системы фазовой идентификации. Применение рентгенодифракционных методов в металлургии, экологии, современных технологиях, геологии, геохимии и др. областях. | ||
| Раздел 2. Рентгенофлуоресцентный метод анализа Физические основы рентгенофлуоресцентного анализа (РФА). Возбуждение рентгеновского характеристического излучения. Оже-эффект, выход флуоресценции. Тормозное излучение. Реальные спектры рентгеновских трубок. Взаимодействие рентгеновских фотонов с веществом. Рентгеноспектральная аппаратура. Способы регистрации и разложения рентгеновского излучения в спектр. Типы рентгеновских детекторов. Волново- и энергодисперсионные спектрометры. Теория и методика рентгенофлуоресцентного анализа. Пробоподготовка. Основная формула РФА и ее анализ. Матричные эффекты. Применение РФА в металлургии, экологии, современных технологиях, геологии, геохимии и др. областях. Современные высокочувствительные методы РФА. |
Вопросы и задания для самопроверки:
1. Определение «физико-химический метод анализа».
2. Аналитическая химия это?
3. Суть качественного и количественного анализа.
4. Что такое технический контроль на производстве?
5. Определение «методика анализа».
6. Общая классификация методов анализа.
7. Примеры физико-химических методов анализа.
8. Спектроскопические методы, суть.
9. Спектр.
10. Постоянная Планка.
11. Основные характеристики спектроскопических методов.
12. Дифракционные методы, суть.
13. Дифракция.
14. Длина волны де Бройля.
15. Уравнение Вульфа-Брегга.
16. Оптические методы, суть.
17. Закон Бугера - Ламберта – Бера.
18. Масс-спектрометрия, суть.
19. Спектроскопия электронов, суть.
20. Электрохимические методы анализа, что в основе?
21. Интеграция физико-химических методов анализа, примеры.
22. Симметрия кристаллов.
23. Операции симметрии, обозначения.
24. Кристаллическая решетка.
25. Кристаллические системы.
26. Решетка Браве.
27. Кристаллографические плоскости (hkl).
28. Точечные группы симметрии.
29. Пространственная симметрия кристаллов, дополнительные элементы симметрии.
30. Свойства рентгеновских лучей.
31. Рассеяние рентгеновских лучей веществом.
32. Рентгенофазовый анализ (РФА).
33. Основное уравнение количественного РФА.
34. Метод внешнего эталона в РФА.
35. Метод «корундовых чисел».
36. Точность результатов количественного РФА.
37. Рентгеноспектральный анализ (РСА), суть.
38. Тормозное рентгеновское излучение.
39. Характеристическое рентгеновское излучение.
40. Источники рентгеновского излучения.
41. От чего зависит интенсивность характеристических линий каждого элемента при РСА?
42. Устройство и принцип работы рентгеновской трубки.
43. Тормозной спектр рентгеновской трубки, формула Крамера.
44. Закон Мозли.
45. Характеристика квантовых чисел.
46. Фотоабсорбция.
47. Оже-электрон.
48. Выход флуоресценции.
49. Энергетическая и волновая дисперсия.
50. Последовательный и одновременный спектрометры.
51. Типы рентгеновских трубок.
52. Основные узлы волнового рентгеновского спектрометра.
53. Растровая электронная микроскопия.
54. Просвечивающая электронная микроскопия.
55. Оптическая микроскопия.
56. Рентгеновская микроскопия.
2. КОНТРОЛЬНАЯ РАБОТА
2.1. Методические указания
При изучении дисциплины студенту необходимо выполнить контрольную работу (КР).
Цель КР - закрепление знаний, полученныхприизучении лекционного курса. КР содержит пять заданий, которые студент выполняет самостоятельно.
Задания к работе даны в десяти вариантах. Студент выполняет вариант, номер которого соответствует последней цифре его индивидуального шифра. Вариант 10 предназначен для студентов, шифр которых оканчивается нулем.
Работа выполняется на ПК в MsWord с прикреплением стандартного титульного листа. Перед каждым ответом записывается вопрос.
Ответы должны быть краткими и в то же время обстоятельными, с представлением необходимого иллюстрационного материала (графики, таблицы, принципиальные схемы методов анализа, рисунки и т.д.), с соответствующими подписями. Формулы при необходимости записываются в редакторе формул. В конце контрольной работы приводят список используемой литературы.
Все данные, заимствованные из литературы (кристаллографические, спектральные характеристики вещества, дифракционные данные и т.д.) должны сопровождаться ссылками на источники. Например, «...длина волны излучения меди λСu Кαср= 1,542Ǻ [1]». Цифра 1, заключенная в квадратные скобки, указывает на номер источника в списке используемой литературы.
Контрольная работа должна быть зачтена до сдачи зачета.
2.2. Задания к контрольной работе
Вариант 1
1. Что понимают под химическим и фазовым составом вещества? Приведите примеры. В чем состоит принцип определения состава вещества любыми методами анализа?
2. Сделайте вывод, поясните физический смысл формулы Вульфа-Брэггов и её применение в рентгеноспектральном анализе.
3. В чем состоит физическая сущность метода рентгеновского флуоресцентного анализа (РФА) вещества? На примере рентгеновского спектрометра дайте характеристику метода по схеме: первичный сигнал
-> анализируемое вещество -> аналитический сигнал (отклик) -> диспергирующая система -> детектор -> обработка результатов эксперимента -> применение. Поясните каждый блок схемы. Как приготовить пробу и выбрать условия съемки для РФА. Какое рентгеновское излучение анализируется в РФА (первичное или вторичное) и почему? Кратко изложите суть качественного и количественного РФА вещества.
4. Определить во сколько раз изменится интенсивность тормозного спектра рентгеновской трубки при использовании вместо Cr анода с силой тока на трубке 20мА W анода с силой тока на трубке 50мА. Изменится ли при этом минимальная длина волны (λmin) сплошного спектра излучения рентгеновской трубки и почему?
5. Какие изменения в кристаллической решетке можно изучать с помощью методов рентгеноструктурного анализа в результате обработки металлов?
Вариант 2
1. Дайте понятие аналитического сигнала вещества. Приведите пример инструментального метода анализа состава вещества по характерному аналитическому сигналу. Какие вредные факторы влияют на величину аналитического сигнала при работе измерительной аппаратуры?
2. На какие процессы расходуется энергия рентгеновских лучей при прохождении их через вещество? Дайте характеристику этим процессам и их возможному использованию в методах анализа вещества. Запишите математическое выражение закона ослабления рентгеновских лучей веществом.
3. Приведите вывод формулы Вульфа-Брэггов.
4. Определить во сколько раз изменится интенсивность тормозного спектра рентгеновской трубки с Au анодом при изменении ее напряжения с 24кВ до 60кВ. Изменится ли при этом минимальная длина волны (λmin) сплошного спектра излучения рентгеновской трубки и почему?
5. Вывести расчетную формулу для минимальной длины волны (λmin) в сплошном спектре излучения рентгеновской трубки. Определить λmin при напряжениях на трубке U = 10кВ; 20кВ; 30кВ; 40кВ; 60кВ; 90кВ. Построить и охарактеризовать график зависимости λmin = f(U).
Вариант З
1. Что такое количественный рентгенофазовый анализ (РФА)? Приведите примеры основных методов РФА. Факторы, влияющие на точность РФА.
2. Какова природа рентгеновских лучей? Какое рентгеновское излучение называется «жестким» и «мягким»? Перечислите основные свойства рентгеновских лучей и практическое применение каждого свойства.
3. В чем состоит физическая сущность метода рентгеновского структурного (дифракционного) анализа (РСА) вещества? На примере рентгеновского дифрактометра дайте характеристику метода по схеме: первичный сигнал -> анализируемое вещество -> аналитический сигнал (отклик) -> детектор -> обработка результатов эксперимента -> применение. Поясните каждый блок схемы и способ определения угла дифракции Θ из дифрактограммы. Как приготовить образец и выбрать условия съемки для РСА? Какое рентгеновское излучение анализируется в РСА (первичное или вторичное) и почему? Кратко изложите суть качественного рентгеновского фазового анализа с использованием базы дифракционных данных ICDD.
4. На дифрактограмме записан интерференционный максимум первого порядка отражений лучей медиот атомных плоскостей кристалла. Угол при вершине дифракционногопика равен 60°, длина волны излучения меди λСuКαср= 1,542Ǻ. Определите межплоскостное расстояние
d/n для данных параллельных плоскостей. Покажите на рисунке расположение дифракционного максимума в зависимости от интенсивности и углов дифракции.
5. Известно, что у комплексного соединения платины PtCl2(NH3)2 и ртутноорганического соединения C6H7HgNO6 коэффициенты поглощения на медном излучении соответственно порядка 400см-1 и 500 см-1, а на молибденовом – 50 и 60 см-1. Во сколько раз ослабнет интенсивность рентгеновского медного излучения при прохождении последнего через образец толщиной 0,1мм по сравнению с образцом толщиной 1мм для указанных соединений в отдельности? Определить какое из указанных соединений ослабляет рентгеновское молибденовое излучение сильнее, учитывая, что плотность ρ(PtCl2(NH3)2) = 3,83 г/см3, а ρ(C6H7HgNO6) = 2,959 г/см3.
Вариант 4
1. В чем отличие, преимущества и недостатки последовательного рентгеновского спектрометра от одновременного. Приведите соответствующие схемы приборов. Где и чем обусловлено применение каждого из типов спектрометров.
2. Сделайте вывод, поясните физический смысл формулы Вульфа-Брэггов и её применение в рентгеноструктурном (дифракционном) анализе.
3. В чем суть качественного рентгеновского фазового анализа (РФА)? Какое рентгеновское излучение используется в РФА (моно- или полихроматическое) и почему? Изобразите схематически дифракционную картину в пространстве от поликристалла (в виде штрих-спектра) с регистрацией её по Брэггу-Брентано. Покажите на схеме расположение углов дифракции 2Θ. Объясните получение дифракционной картины и технику расчета рентгенограммы.
4. Известно, что у комплексного соединения платины PtCl2(NH3)2 и ртутноорганического соединения C6H7HgNO6 коэффициенты поглощения на медном излучении соответственно порядка 400см-1 и 500 см-1, а на молибденовом – 50 и 60 см-1. Определить анализируемую глубину образцов, содержащих данные соединения в чистом виде, для каждого из типов рентгеновского излучения, учитывая, что плотность ρ(PtCl2(NH3)2) = 3,83 г/см3, а ρ(C6H7HgNO6) = 2,959 г/см3. Сделать вывод о влиянии природы исследуемого вещества и материала анода на величину анализируемой глубины образцов рентгеновскими методами.
5. Какие преимущества имеет растровый электронный микроскоп (РЭМ) по сравнению со световым микроскопом? Приведите схему РЭМ и опишите его устройство в режиме работы микроскопа.
Вариант 5
1. На чем основан количественный рентгенофазовый анализвещества?Дайте характеристику метода с использованием рентгеновского дифрактометра. На каких углах Θ (больших или малых) выбирают аналитические линии, и как можно оценить их интенсивность? Рассмотрите метод внешнего стандарта для многофазных сплавов.
2. Дайте понятие спектрального состава рентгеновских лучей. Что служит в качестве призмы для разложения лучей в спектр? Объясните условия получения линейчатого спектра характеристического рентгеновского излучения (первичного) на модели атома и принцип его использования в рентгеноспектральном анализе?
3. Выберите из предложенных рентгеновских трубок с медным, кобальтовым и вольфрамовым зеркалом анода трубку для рентгенофазового анализа сплава на основе железа. Порядковые номера указанных элементов в таблице периодической системы равны: для Fe - 26, Со -27, Си - 29, W - 74. Ответ поясните.
4. При исследовании характеристического рентгеновского спектра некоторого элемента было найдено, что длина волны, соответствующая линии Кα, равна 0.075 нм. Определить порядковый номер элемента в таблице Менделеева. Как называется этот элемент?
Постоянная экранирования для К –серии равна σ=1.
k = R*(1/n21-1/n22).
5. Рассчитать выход флуоресценции для К-серии углерода.
Вариант 6
1. Дайте понятие стандартного образца состава. Изложите принцип построения градуировочной зависимости состав – аналитический сигнал.Каквоспользоваться этой зависимостью для определения содержания компонентов в пробе?
2. В каком случае для рентгеновских лучей кристаллическая решетка является дифракционной? Запишите и проанализируйте формулу интенсивности рентгеновских лучей, рассеянных кристаллом в определенном направлении. Каким образом применяется эта формула в рентгеноструктурном анализе?
3. На чем основан количественный рентгеновский фазовый анализ вещества? Дайте характеристику метода с использованием рентгенов
ского дифрактометра. На каких углах Θ (больших или малых) выбирают аналитические линии и как можно оценить их интенсивность? Рассмотрите метод внутреннего стандарта для многофазных сплавов.
4. Определить длину волны характеристического рентгеновского спектра L-серии вольфрама.
Постоянная экранирования для L –серии равна σ=7,5.
5. Определить массовый коэффициент поглощения соединения KClO4, если массовые коэффициенты поглощения элементов следующие: калий – 143, хлор – 106, кислород – 11,5.
Вариант 7
1. Что называют доверительным интервалом оцениваемойвеличины в метрологии? Запишите выражение для границ доверительногоинтервала и дайте его характеристику.
2. Назовите спектральный состав рентгеновских лучей. С помощью какого прибора можно разложить рентгеновское излучение в спектр? Дайте характеристику спектра торможения.
Определите длины волн в спектре торможения, соответствующие лучам меди с максимальной жесткостью λ0, и максимальной интенсивностью λimaks при напряжении на рентгеновской трубке 40 кВ. Схематично изобразите вид спектра.
3. Выберите из предложенных рентгеновских трубок с медным, кобальтовым и вольфрамовым зеркалом анода трубку для рентгенофазового анализа сплава на основе железа. Порядковые номера указанных элементов в таблице периодической системы равны: для Fe - 26, Со -27, Си - 29, W - 74. Ответ поясните.
4. Дан образец, представляющий собой сплав благородных металлов с известным составом. Необходимо решить обратную задачу, построить рентгеновский спектр, т.е. определить вручную угловое положение характеристических линий элементов. Необходимые спектральные данные указаны в таблице 1. В рентгеноспектральном анализе используются различные кристалл-анализаторы с разными значениями межплоскостного расстояния (d, Å), которые указаны в таблице 1 после соответствующего названия кристалла. Заполните таблицу 1 соответствующими данными для указанных элементов в образце. Постройте и охарактеризуйте график зависимости 1/ 
- Z.
Таблица 1 – Табличные данные для рентгеноспектрального анализа (угол дифракции – кристалл-анализатор - элемент - длина волны)
| Угол дифракции, º - кристалл-анализатор | Элемент | Линия | λ, A | ||||||
| TAP 25,75 | ADP 10,64 | EDT 8,808 | PET 8,742 | Ge 6,532 | LiF 4,0267 | ||||
| Ag | Kα1,2 | 1,122 | |||||||
| Pd | Kα1,2 | 1,174 | |||||||
| Rh | Kα1,2 | 1,229 | |||||||
| Ru | Kα1,2 | 1,289 |
5. Определить число атомов в элементарной ячейке 1) простой (ПК), 2) объемно-центрированной (ОЦК), 3) гранецентрированной (ГЦК) кубических решеток.
Вариант 8
1. Назовите основные виды аналитического контроля.Что является задачей качественного анализа состава вещества? Чем отличается элементный анализ от фазового анализа?
2. Перечислите, на какие процессы расходуется энергия рентгеновских лучей при прохождении их через вещество. Что такое вторичное рентгеновское излучение? Покажите образование этого излучения на модели атома. Как вторичное рентгеновское излучение используется в рентгеновском спектральном анализе и как избежать его в рентгеновском структурном анализе?
3. В чем суть качественного рентгеновского фазового анализа (РФА)? Какое рентгеновское излучение используется в РФА (моно- или полихроматическое) и почему? Изобразите схематически дифракционную картину в пространстве от поликристалла (в виде штрих-спектра) с регистрацией её по Брэггу-Брентано. Покажите на схеме расположение углов дифракции 2Θ. Объясните получение дифракционной картины и технику расчета рентгенограммы.
4. Дан образец, представляющий собой сплав благородных металлов. Определите вручную качественный состав образца по рентгеновскому спектру, полученному на волновом рентгеновском спектрометре, необходимые спектральные данные для всех благородных металлов указаны в таблице 1. На полученном спектре присутствуют следующие линии с углами (º): 16,17; 16,96; 21,29; 21,86 25,34. Известно, что первые 2 линии были получены с помощью кристалл-анализатора PET со значением d = 8,742 Å, а последние три - с помощью кристалл-анализатора Ge со значением d = 6,532 Å. Рассчитайте значения энергии фотона для каждой линии (E,кэВ). Заполните таблицу 1 соответствующими данными для найденных элементов (углы и значения энергии). Постройте и охарактеризуйте график зависимости E = f(λ).
Таблица 1 – Табличные данные для рентгеноспектрального анализа (угол дифракции – кристалл-анализатор - элемент - длина волны - энергия)
| Угол дифракции, º - кристалл-анализатор | Элемент | Линия | λ, A | E, кэВ | |||||
| TAP | ADP | EDT | PET | Ge | LiF | ||||
| Au | Lβ2 | 1,07 | |||||||
| Au | Lβ1 | 1,084 | |||||||
| Pt | Lβ2 | 1,102 | |||||||
| Pt | Lβ1 | 1,12 | |||||||
| Ag | Kα1,2 | 1,122 | |||||||
| Ir | Lβ2 | 1,135 | |||||||
| Ir | Lβ1 | 1,158 | |||||||
| Pd | Kα1,2 | 1,174 | |||||||
| Os | Lβ2 | 1,17 | |||||||
| Os | Lβ1 | 1,197 | |||||||
| Re | Lβ2 | 1,207 | |||||||
| Rh | Kα1,2 | 1,229 | |||||||
| Re | Lβ1 | 1,239 | |||||||
| Au | Lα1 | 1,276 | |||||||
| Ru | Kα1,2 | 1,289 | |||||||
| Pt | Lα1 | 1,313 | |||||||
| Ir | Lα1 | 1,351 | |||||||
| Os | Lα1 | 1,391 | |||||||
| Re | Lα1 | 1,433 |
5. Чему равны расстояния между плоскостями (100), (110), и (111) в кубической решетке с параметром а.
Вариант 9
1. Что является задачей количественного анализа вещества? Дайте понятие концентрации (содержания) компонента в пробе. Как называется графическая зависимость состав-аналитический сигнал, построенная для стандартных образцов? Как она используется в количественном анализе?
2. Для чего служат спектральные методы локального анализа и анализа поверхности?
3. Какие особенности имеет просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ)? Приведите схему ПЭМ и опишите его устройство в режиме работы микроскопа.
4. В чем суть рентгеноструктурного анализа? Изобразите ход лучей в рентгеновском дифрактометре по Брэггу-Брентано. Какой счетчик рентгеновских квантов используется в дифрактометре XRD-7000. Дайте краткую характеристику этому счетчику и принципу его работы.
5. На дифрактограмме записан интерференционный максимум второго порядка отражения лучей меди от атомных плоскостей с символом (hkl) = (110) кубического кристалла. Угол при вершине дифракционного пика равен 60°, длина волны излучения меди λСuКαср= 1,542Ǻ. Определите, чему равны индексы интерференции (HKL) данного максимума и параметр решетки кристалла "а", от которого этот максимум получен. Покажите на рисунке расположение дифракционного максимума в зависимости от интенсивности и углов дифракции.
Вариант 10
1. На чем основан физический принцип спектроскопических методов анализа? На какие методы подразделяют спектроскопический анализ вещества? Назовите области их применения.
2. Какой процесс лежит в основе рентгеноспектрального метода анализа вещества? Ответ поясните на модели атома.
3. Поясните использование формулы Вульфа-Брэггов при изучении рентгеновских спектров атомов различных элементов. На примере растрового электронного микроскопа дайте характеристику метода МРСА по схеме: первичный сигнал -> анализируемое вещество ->аналитический сигнал (отклик) -> диспергирующая система -> детектор -> обработка результатов эксперимента -> применение. Поясните каждый блок схемы. Как приготовить пробу и выбрать условия съемки для анализа? В каких целях может быть использован этот метод для металлов и сплавов, прошедших обработку давлением?
4. Дан образец, представляющий собой сплав благородных металлов с известным составом. Необходимо решить обратную задачу, построить рентгеновский спектр, т.е. определить вручную угловое положение характеристических линий. Необходимые спектральные данные указаны в таблице 1. В рентгеноспектральном анализе используются различные кристалл-анализаторы с разными значениями межплоскостного расстояния (d, Å), которые указаны в таблице 1 после соответствующего названия кристалла. Заполните таблицу 1 соответствующими данными для указанных элементов в образце. Постройте и охарактеризуйте график зависимости 1/ - Z.
Таблица 1 – Табличные данные для рентгеноспектрального анализа (угол дифракции – кристалл-анализатор - элемент - длина волны)
| Угол дифракции, º - кристалл-анализатор | Элемент | Линия | λ, A | ||||||
| TAP 25,75 | ADP 10,64 | EDT 8,808 | PET 8,742 | Ge 6,532 | LiF 4,0267 | ||||
| Au | Lα1 | 1,276 | |||||||
| Pt | Lα1 | 1,313 | |||||||
| Ir | Lα1 | 1,351 | |||||||
| Os | Lα1 | 1,391 | |||||||
| Re | Lα1 | 1,433 |
5. Объясните использование методов рентгеноструктурного анализа для исследования металлов и сплавов.
3. ТЕМЫЛАБОРАТОРНЫХ РАБОТ
До сдачи зачета должны быть выполнены следующие лабораторные работы:
1. Устройство и принцип работы порошкового рентгеновского дифрактометра XRD-7000. Пробоподготовка. Базы кристаллоструктурных данных неорганических веществ ICSD (FIZ Karlsruhe, ФРГ), кристаллографических и рентгенографических данных PDF4 (ICDD, США).
2. Комплексный качественный и количественный (метод «корундовых чисел») рентгенофазовый анализ с использованием программы ИПС ФИ.
БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК
Учебники и учебные пособия
1. Уманский Я.С. Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия [Текст]/ Я.С. Уманский, Ю.А. Скаков, А.И. Иванов, Л.П. Расторгуев. - М.: Металлургия. - 1982. – 632 с.
2. Горелик С.С. Рентгенографический и электронно-оптический анализ [Текст]/ С.С. Горелик, Л.Н. Расторгуев, Ю.А. Скаков. - М.: Металлургия. - 2002. – 328 с.
3. Мальцев M.B. Рентгенография металлов [Текст]. - М.: Металлургия. - 1952. – 267 с.
4. Карпов Ю.А. Аналитический контроль металлургического производства [Текст]/ Ю.А. Карпов, Ф.А. Гиммельфарб, А.П. Савостин, В. Д. Сальников. - М.: Металлургия. - 1995. – 360 с.
5. Юнг Г. Инструментальные методы химического анализа Пер, с англ. [Текст]. - М.: Мир. - 1989. – 346 с.
6. Васильев В.П. Аналитическая химия: в 2 ч. [Текст]. - М.: Высш. шк. - 1989. - Ч. 2. – 375 с.
7. Смирнов Н.А. Современные методы анализа и контроля продуктов производства[Текст]. - М.: Металлургия. - 1985. – 265 с.
8. Драго Р. Физические методы в химии: в 2 т. [Текст]. - М.: Мир. - 1981.- Т.1.- 422 с; Т.2.- 456 с.
Методические указания
1. Компьютерный качественный и количественный рентгенофазовый анализ: учебно-методическое пособие [Электронный ресурс] / сост.:П. С. Дубинин, И. С. Якимов, О.Е. Пиксина. – Электрон. дан. – Красноярск: Сиб. федер. ун-т, 2015.
2. Рентгеновский спектральный анализ: методические указания к лабораторным работам по направлению 150100 – Материаловедение и технология новых материалов [Электронный ресурс] / сост. О.Е. Пиксина, С.Г. Ружников, П.С. Дубинин. – Электрон. дан. – Красноярск: Сиб. федер. ун-т, 2012.
3. Кристаллография, рентгенография и микроскопия: методические указания к практическим занятиям по направлению 150100 – Материаловедение и технология новых материалов [Электронный ресурс] / сост. И. С. Якимов, П. С. Дубинин. – Электрон. дан. – Красноярск: Сиб. федер. ун-т, 2012.
4. Хемометрика и аналитический контроль качества: методические указания к практической работе по направлению 150100 – Материаловедение и технология новых материалов [Электронный ресурс] / сост. И. С. Якимов, П. С. Дубинин. – Электрон. дан. – Красноярск: Сиб. федер. ун-т, 2013.
5. Рентгенофазовый и рентгеноструктурный анализ поликристаллов. Часть I. Качественный рентгенофазовый анализ: методические указания к лабораторным работам по направлению 150100 – Материаловедение и технология новых материалов [Электронный ресурс] / сост. И.С. Якимов, П.С. Дубинин, А.Н. Залога. – Электрон. дан. – Красноярск: Сиб. федер. ун-т, 2012.
6. Рентгенофазовый и рентгеноструктурный анализ поликристаллов. Часть II. Количественный рентгенофазовый анализ: методические указания к лабораторным работам по направлению 150100 – Материаловедение и технология новых материалов [Электронный ресурс] / сост. И.С. Якимов, П.С. Дубинин, А.Н. Залога. – Электрон. дан. – Красноярск: Сиб. федер. ун-т, 2012.