Практика 5. Бенчмаркинг изделий (инноваций)
Цели занятия: ознакомиться с методологией и возможностями такого инструмента инновационного менеджмента, как бенчмаркинг изделий, углубить знания по нему, полученные в лекционном курсе и в результате самостоятельной работы, а также приобрести начальные навыки его применения.
Общие положения
1.1. Под бенчмаркингом понимают критический анализ определенных объектов (инноваций) с целью поиска лучших образцов, опыта и т. д. для их использования в своей организации. В связи с тем, что в процессе поиска используется, как правило, некоторый критерий для отбора лучшего, в рассматриваемом случае — технический уровень изделия (инноваций). Тема занятия может именоваться и как “оценка технического уровня изделия (инноваций)”. Бенчмаркинг изделия может рассматриваться как начальный этап совершенствования любого изделия.
1.2. Для оценки совершенства анализируемого технического объекта, изделия, инновации, т. е. для оценки его технического (или технологического уровня), принято “сворачивать” его частные характеристики (показатели, характеризующие односторонние достоинства анализируемого объекта) в один обобщающий (интегральный), по значению которого и судят о совершенстве объекта оценки.
1.3. Для решения оценочной задачи используют различные подходы и основанные на них методы. На этом занятии используется графический метод, выражающийся в построении площадного графика — “розы”.
Методические указания по выполнению отдельных элементов занятия
2.1. Бенчмаркинг осуществляется по совокупности изделий одинакового функционального назначения. Если таких изделий множество, совокупность суживают до изделий одного класса (группы), к которому относят только изделия, близкие по ведущему параметру, например, мощности, производительности и т. д.
2.2. По отобранной совокупности изделий устанавливают перечень наиболее важных характеристик (показателей), всесторонне их характеризующих, и формируют массив значений этих характеристик. На данном занятии эта задача упрощена: соответствующая информация принимается исходя из выданного варианта задания (см.п.4). Очень важно определиться, какие значения показателей (большие или меньшие) характеризуют рассматриваемые объекты с лучшей стороны. Например, большая масса изделия чаще всего отрицательно характеризует изделие (оно очень материалоемко), но для отдельных изделий она может служить положительной характеристикой.
2.3. Для построения площадной диаграммы необходимо вычертить окружность любого диаметра и из центра окружности провести столько равноотстоящих лучей, сколько характеристик используется для оценки совершенства изделия. Каждый из лучей предназначается для отображения одного из частных оценочных свойств (характеристик) изделия. На каждом луче произвольно строятся шкалы показателей, отражающих оценочные свойства.
2.4. Наибольшие и наименьшие деления шкал должны охватывать (лучше перекрывать) крайние значения показателей, встречающихся в сформированном массиве значений (см. п. 2.2). Положения наибольшего и наименьшего делений на каждой шкале (луче) безразлично. Лучшие значения шкал откладываются со стороны окружности (пример приведен в образце отчета по занятию).
2.5. Поочередно на каждом луче откладываются значения показателей, характеризующих отдельное изделие. Нанесенные значения соединяются линией, образующей в общем случае “веревочный” многоугольник (в рассматриваемом примере четырехугольник). Площадь фигуры, ограниченной многоугольником, обобщенно отражает достоинства (технический уровень) отдельного изделия. Чем она больше, тем выше технический уровень изделия.
2.6. Отраженная на “розе” информация позволяет показать “идеальное” для достигнутого уровня технического развития изделие. Оно характеризуется “веревочным” многоугольником, соответствующим лучшим значениям показателей на каждом луче диаграммы (“розы”). Пример такого построения приведен на рис.1 примера отчета по занятию.
2.7. Замер площадей1 по построенной диаграмме и соотнесение площадей, соответствующих каждому изделию, с площадью “идеального” изделия, позволяет оценить собственно технический уровень каждого изделия, достигнутый на соответствующем этапе общественного и технического развития.
Площади могут замеряться путем: наложения на “розу” миллиметровки, нанесенной на кальку, и подсчета клеток, либо с использованием линейки; вычисления площадей треугольников, образующихся между лучами диаграммы и сторонами многоугольников, и последующего их сложения.
При этом пользуются формулой
ТУИi = Fi: Fи,
где ТУИi — значение технического уровня i-го изделия, доли единицы;
Fi — площадь многоугольника, соответствующая i-му изделию, единицы площади;
Fи — то же, “идеального” изделия, единицы площади.
Пример соответствующих вычислений приведен в п. 2, 3, 4 примера отчета по занятию.
2.8. В завершение занятия целесообразно проранжировать анализируемые объекты в порядке уменьшения значений ТУИ и отразить результаты ранжирования в виде столбчатой диаграммы. Пример соответствующей столбчатой диаграммы приведен на рис. 2 примера отчета по занятию.