Вступление
С момента издания в 2007 г. книги о микроскопах для технических целей и по практике работы с ними из серии «С микроскопом на „ты“» прошло более 10 лет.
За это время изменилась не только номенклатура выпускаемых в мире микроскопов, но и появились новые группы микроскопов, элементная база, технологии. Постепенное развитие отечественного производства и таких направлений, как аэрокосмическое, машиностроение и приборостроение, приводит к необходимости повышения уровня и качественного состава специалистов на предприятиях, в высших учебных заведениях в России. Это требует определенного представления о возможности световой микроскопии первой четверти XXI в., представленной на отечественном и мировом рынке. Тем более это важно, когда создаются центры коллективного пользования, закупается сложное оборудование и необходимо понять, как его использовать для решения конкретной задачи.
В 2004 г. было написано приложение к книге Д. Брандон, У. Каплан «Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля» (М.: Техносфера). Идея написать приложение была связана с тем, что в процессе технического редактирования части, посвященной микроскопии, стало ясно, что теория и технология в книге были описаны хорошо, но вот методы микроскопического исследования явно отставали от современных (перевод книги 1980-х гг.).
При консультировании специалистов, желающих открыть новое или развивать старое производство и для этих целей приобрести новое современное оборудование, чувствуется затруднение при выборе не столько моделей и фирмы (в конце концов, это уровень коммерческий, где, к сожалению, не всегда учитываются пожелания специалистов), сколько тип, класс и метод исследования.
С 1990-х гг. у нас в стране идёт определённое сокращение оптико-механических производств микроскопов и специалистов-расчетчиков, конструкторов, технологов-микроскопистов. Однако естественным в наше время является рост потребности в разработке высокотехнологичных установок на базе оптических элементов с расчетным дифракционным качеством, которое соответствует объективам микроскопа, и требуются элементарные знания технологии производства и контроля высококачественных оптических узлов и приборов.
Работа в ГОИ им. С. И. Вавилова в лаборатории микроскопии и на ОАО «ЛОМО» в КБ микроскопии в качестве исследователя и разработчика новой оптики микроскопов, а также диссертация, посвященная технологичности оптических конструкций, работа консультантом на фирме ООО «Карл Цейсс» и экспертом в фирме «ТКС-оптика» (Санкт-Петербург), занимающейся сертификацией продукцией, участие в выставках и конференциях дают возможность поделиться знаниями в области микроскопии, как в части информации о возможностях современных микроскопов, так и практики работы с микроскопом, в том числе и контроля качества изображения.
«Меньше теории (хотя без нее тоже нельзя), больше практики» — таков девиз этой книги. Данное издание, как и предыдущее, не носит характер фундаментального труда и не претендует на абсолютную полноту информации.
Книга условно разделена на три части: первая часть посвящена обзору и классификации микроскопов для технических целей с учётом соотношения «цена — качество», а также основным тенденциям развития данного направления.
Во второй части рассмотрены основные методы контрастирования с точки зрения принципов формирования оптико-механической конструкции специальных модулей, а также представлен номенклатурный ряд объективов и окуляров современных микроскопов для технических целей. Рассмотрены основные проблемы комплектации микроскопов и сочетание элементов. Предложена методика «чтения» основных оптических узлов с учётом производства в разных странах. В этой же части рассмотрены правила работы и настройки микроскопов разных типов с учётом методов контрастирования, а также уход за микроскопом.
В третьей части рассмотрены вопросы объективных и субъективных методов оценки качества изображения объективов. В этой же части представлена краткая информация по геометрической и волновой оптике.
В Приложении вы сможете найти интересную справочную информацию как для работы, так и с познавательной точки зрения. Это и словарь микроскописта, связанный с глазом, поляризацией и люминесценцией, а также формулы и таблицы микроскопии. В Приложении 3 вынесены вопросы, связанные с поляризационной микроскопией. В Приложении 4 приведены основные положения стандартов по эргономике и безопасности.
Эта книга создавалась как информационный материал, связанный с достижениями современного (в большей степени) зарубежного микроскопостроения для технических целей. В качестве примеров рассмотрены интересные номенклатурные ряды микроскопов, а также конструкции узлов и реализации методов контрастирования ведущих фирм «Carl Zeiss» (Германия), «Olympus» (Япония), «Leica» (Германия), «Nikon» (Япония), «Meiji Techno» (Япония), «Motic» (Китай). С другой стороны, в книге рассмотрены вопросы, связанные с отечественными микроскопами, которые до сих пор есть на местах и в продаже.
Оглавление
Вступление.......... 3
ЧАСТЬ I
Глава 1. Микроскопы для технических целей.......... 6
1.1. Особенности микроскопии для технических целей.......... 6
1.2. Классификация объектов по физико-химическим свойствам.......... 8
1.3. Тенденции развития современных микроскопов для технических целей.......... 14