Параметры электронной промышленности.




Данные параметры должны быть в обязательном порядке определены в задании на проектирование с указание конкретных величин, определяющих технологический уровень, требуемый к достижению в проектируемом производстве

Наименование Определение
1 Половина шага минимального размера объекта, нм Представляет собой топологический размер транзистора, измеренный в нанометрах (нм). Определяется как половина шага от начала одного устройства (транзистора) до начала второго устройства (транзистора)
2 Диаметр пластины, мм Физический диаметр пластины, измеренный в миллиметрах (мм)
3 ДППД Динамическая память с произвольным доступом
4 Количество уровней шаблонов ДППД Указывает количество слоев маски ДППД
5Производственные площади (чистые помещения) м2/ стартов пластин в месяц/ количества/ слоев шаблонов (300 мм) Площадь Фаб, определенная в квадратных метрах (м2), необходимая на проведение одного старта пластины с учетом количества слоев маски ДППД для пластины диаметром 300мм
6 Производственная (чистая) площадь, м2 Производственная (чистая) площадь определяется как общая площадь в квадратных метрах, на которой размещено технологическое и метрологическое оборудование, используемое непосредственно для производственных процессов, таких как фотолитография, диффузия, травление, тонкие пленки, химико-механическая полировка (ХМП), за исключением подсобных помещений, содержащих вспомогательное оборудование и системы инфраструктуры объекта. Это включает все пространство внутри зоны чистого производственного помещения, содержащего технологическое оборудование, отсеки и коридоры
7 Количество стартов пластин в месяц (СПВМ) Количество стартов пластин в месяц определяется как количество пластин, введенных в производство для обработки в течение данного 30-дневного периода
8 Соотношение Сабфаб к Фаб Отношение Сабфаб к Фаб определяется как отношение площади, занимаемой зоной вспомогательного оборудования, к производственной площади основного каркаса, приведенной выше. Снижение занимаемой площади на 25 % позволяет размещать колонны и оборудование систем безопасности в зоне вспомогательного оборудования. Относится к заводским операциям «Эффективность жилой площади». П р и м е ч а н и е — Для некоторых видов технологического оборудование характерно более высокое соотношение, а у других нет вспомогательного оборудования. Данное отношение представляет собой среднее значение для всего оборудования в полном наборе заводских инструментов ДППД
9 Уровень чистоты помещений (ГОСТ Р ИСО 14644-1) Классификация чистоты воздуха производственной зоны полупроводниковых фабрик (чистых помещений) в соответствии с ГОСТ Р ИСО 14644-1
10 Критерии проектирования критических зон вибрации объекта (литография, метрология, и проч.) (микрометры в секунду) «Критическая вибрация» определяется как область основного производственного зала, в которой установлена значительная часть оборудования, чувствительного к вибрации пола, при этом демпфирование не было обеспечено на самом оборудовании, а чрезмерные вибрации могут иметь серьезные последствия для продукта. Для проектирования конструктивного и механического оборудования объекта с учетом потребностей этой категории помещений могут быть востребованы широкомасштабные меры. Критериями вибрации являются пределы амплитуд колебаний на поверхности пола или другой опоре инструмента, заданные как VC-x. где x — буквенное обозначение от A до E, соответствующее определенному спектру амплитуды колебаний по ГОСТ Р ИСО/ТС 10811-2    
11 Критерии проектирования некритических зон вибрации объекта, (мкм/с) «Некритическая вибрация» определяется как площадь основного производственного пола, в которой все или часть оборудования является лишь умеренно чувствительным к вибрации, а характеристики конструктивной системы могут быть снижены. Критерии вибрации — пределы амплитуды вибрации на полу или другой опоре инструмента, заданные как VC-x, где x — буквенное обозначение от A до E, соответствующее определенному спектру амплитуды колебаний по ГОСТ Р ИСО/ТС 10811-2
12 Максимально допустимое электростатическое поле на поверхностях объекта, В/м для предотвращения электростатического разряда Пределы поверхностного электрического поля объекта распространяются на все производственные конструкции, конструкционные материалы, мебель, людей, оборудование, и несущие конструкции  
13 Критерии проектирования для (чувствительной зоны электромагнитных излучений (ЭМИ)) «Чувствительные зоны ЭМИ» определяются как области первичного производства, где размещены такие чувствительные приборы ЭМИ как сканирующий электронный микроскоп (СЭМ), туннельный электронный микроскоп (ТЭМ), электронно-лучевой микроскоп, фокусированный ионный пучок. Перечисленные ограничения охватывают типовые требования к приборам. Частные случаи применения могут требовать более жестких диапазонов
14 Критерии проектирования для «очень чувствительных зон ЭМИI» «Очень чувствительные зоны ЕМИ» определяются как зоны, не соединенные с текущим производственным процессом. Обычно это лаборатории или исследовательские зоны. Для этих необходимы измерения, требующие очень высокого разрешения, а следовательно, и ограничения в отношении электромагнитных помех являются более жесткими по сравнению с обычной производственной площадью. К чувствительным приборам относятся РЭМ, ТЭМ, сфокусированный ионный пучок, электронно-лучевой микроскоп и средства измерений. Перечисленные ограничения охватывают типовые требования к приборам. Частные случаи применения могут требовать более жестких пределов
15 Предел излучения для объекта Излучение представляет собой электромагнитные поля (сочетание электрических и магнитных полей) аналогичные полям, используемым в беспроводной связи и радиовещании. Электрическое поле генерируется напряжением, магнитное — током, эти поля генерируют нежелательные напряжения и токи в проводах и «следы» на другом электронном оборудовании. Эти нежелательные сигналы могут вызывать помехи нормальной работы оборудования и могут изменять параметры процесса, влияя на датчики и органы управления. Сила излучаемого излучения уменьшается с расстоянием, то есть она представляет меньшую проблему для оборудования, расположенного вдали от источника. К мерам по уменьшению излучения относятся выбор низкоэмиссионного оборудования, соответствующего стандартам электромагнитной совместимости (ЭMC), правильное его заземление, сокращение длины проводов, которые действуют как антенны, и улучшение экранирования, включая закрывание всех крышек на оборудовании
16 Предел кондуктивного излучения для объекта Кондуктивное излучение является нежелательным для проводов и металлической структуры оборудования. Обычно это вызвано электрической коммутацией, серводвигателями и частотно-регулируемыми двигателями, исполнительными механизмами, источниками в производственной зоне, шумными источниками питания и т.п. В отличие от излучения, проводимые сигналы могут распространяться на большое расстояние по проводам с минимальным затуханием и вызывать значительные эксплуатационные проблемы вдали от источника сигналов. К мерам по снижению кондуктивного излучения относятся фильтры электромагнитных помех, правильная прокладка линий электропередачи и заземления, а также выбор нешумного оборудования   Часто излучение является смешанным — силовые кабели и заземление, которые могут нести кондуктивный сигнал, становятся антеннами для излучения такого сигнала, а поле с противоположным излучением создает электрический сигнал в кабелях и проводах, подведенных к оборудованию, создавая помехи от кондуктивного излучения. К мерам по снижению таких помех относятся сокращение числа и правильная прокладка кабелей и фильтрация электромагнитных помех
17 Соотношение холостого хода инструмента и расхода энергии на обработку, кВт / кВт Коэффициент энергопотребления технологического инструмента и вспомогательного оборудования, когда не обрабатываются пластины над энергопотреблением когда инструмент обрабатывает пластины

 

 


УДК 69+725.4.011(083.74) ОКС 91.090

Ключевые слова: производственные здания, складские здания, строительные материалы, строительные конструкции, помещения, степень огнестойкости, класс конструктивной пожарной опасности здания, чистые комнаты.

 

ИСПОЛНИТЕЛЬ

НИИСФ РААСН

 

 

Руководитель

организации-разработчика

Директор _________________________ И.Л.Шубин

 

СОИСПОЛНИТЕЛЬ

АО «ЦНИИПромзданий»

 

Руководитель организации-

Разработчика

Генеральный директор ____________________ В.В. Гранев

 

 

Руководитель

Разработки,

Заместитель начальника отдела

научных исследований

производственных зданий

__________________Т.Е. Стороженко



Поделиться:




Поиск по сайту

©2015-2024 poisk-ru.ru
Все права принадлежать их авторам. Данный сайт не претендует на авторства, а предоставляет бесплатное использование.
Дата создания страницы: 2019-09-09 Нарушение авторских прав и Нарушение персональных данных


Поиск по сайту: