ОТЧЁТ
По дисциплине «Контроль качества продукции»
Группа: М – 501
Студент: Рожков А.В.
Преподаватель: Алексеев О.К.
Тольятти 2005
Содержание:
Введение
1. Статистическая обработка данных
2. Построение гистограммы
3. Диаграмма Исикавы
4. Составление карт контроля
5. Выводы
Список литературы
Приложения
Статистическая обработка данных
Оценка технологической точности обработки на контрольной операции проводится с помощью индексов воспроизводимости Ср и Срк. Индекс воспроизводимости Ср характеризует соответствие изменчивости статистически устойчивого процесса ширине поля допуска. Индекс воспроизводимости Срк характеризует настроенность процесса на центр поля допуска:
Допускаемые значения индексов воспроизводимости для общепринятых оценок технологического процесса должны принимать следующие значения:
Значение индекса воспроизводимости Ср определим по формуле:
(1.1)
где s – оценка стандартного отклонения
Δ – ширина поля допуска определяемая по формуле:
(1.2)
где ВГД, НГД – верхняя и нижняя граница поля допуска контролируемого размера.
мм.
Определим среднеквадратичное отклонение по формуле:
; (1.3)
где Хi – результат i-ого измерения;
(Хср) – среднее значение контролируемых размеров для всего объема выборки,
(Хср) =0,0167 мм;
n – количество контролируемых размеров в выборке, n=100.
Определяем среднеквадратичное отклонение
s =0,0062
Так как ширина поля допуска контролируемого размера составляет Δ = 0,03 мм, то значения верхней и нижней границы поля допуска будут следующими:
ВГД = 0,03 мм; НГД = 0 мм
|
|
Определяем значение индекса воспроизводимости Ср
Полученное значение индекса воспроизводимости Ср<1; поэтому изменение технологического процесса происходит в статистически устойчивом состоянии для принятого поля допуска контролируемого размера.
Определим значение индекса воспроизводимости Срк по формуле:
(1.4)
где d – расстояние между средней границей прохождения процесса и ближайшей границей поля допуска, принимаемое как dmin(dВГД;dНГД)
Расстояние между средней границей прохождения процесса и наибольшей границей поля допуска определим по формуле:
(1.5)
где (Хср) – среднее значение контролируемых размеров для всей выборки
Расстояние между средней границей прохождения процесса и наименьшей границей поля допуска определим по формуле:
(1.6)
Определяем расстояния между средней границей прохождения процесса и ближайшей границей поля допуска
Из полученных значений выбираем наименьшее и подставляем его в формулу (1.4)
Полученное значение индекса воспроизводимости Срк < 1; это говорит о том, что настройка процесса смещена от центра поля допуска, поэтому для улучшения качества процесса необходимо увеличивать Срк.
Вывод статистической обработки данных см. раздел 5 данной работы.
Построение гистограммы
Для выявления положения среднего значения и определения характера рассеивания необходимо построить гистограмму. Гистограмма – это графическое представление количественной информации в виде столбиковой диаграммы. Для построения гистограммы требуется провести некоторые вычисления:
|
|
1. Построить горизонтальную шкалу возможных контролируемых значений размера
2. Отметить на шкале минимальное и максимальное значение контролируемого размера, вычислить размах R = Хmax-Xmin
3. Разделим весь диапазон контролируемых значений на к-интервалов и отметим границы интервалов (α1, α2… αк+1)
4. Подсчитаем количество значений (ni) попавших в каждый интервал и составим интервальную таблицу частот
5. Вычислим длину интервала h = (αк+1- α1)/к
6. Над каждым интервалом построим прямоугольник высотой ni/ h
Определим размах для всего объема контролируемых размеров в выборке
Хmax =0,03; Хmin =0,01; R = Хmax-Xmin +2е = 0,03-0,01 +2*0,001 = 0,022
е – погрешность измерения, принимаем равной: е = 0,001
Определяем ширину интервала по формуле:
(2.1)
Определяем ширину интервала
Определяем границы интервала по формулам:
(2.2)
(2.3)
где НГ и ВГ – соответственно верхняя и нижняя границы интервала
Все полученные значения сводим в таблицу 2.1
Гистограмму представим на рис 2.1
Таблица 2.1
Количество попаданий в интервал.
| № | Нгi | ВГi | Ср.зн. | Попад |
| 0,009 | 0,0112 | 0,01 | ||
| 0,0112 | 0,0134 | 0,0123 | ||
| 0,0134 | 0,0156 | 0,0145 | ||
| 0,0146 | 0,0178 | 0,0157 | ||
| 0,0178 | 0,02 | 0,0189 | ||
| 0,02 | 0,0222 | 0,0211 | ||
| 0,0222 | 0,0244 | 0,0233 | ||
| 0,0244 | 0,0266 | 0,0255 | ||
| 0,0266 | 0,0288 | 0,0277 | ||
| 0,0288 | 0,031 | 0,0299 |
Вывод по гистограмме см. раздел 5 данной работы.
Диаграмма Исикавы
Диаграмма Исикавы – это схема, показывающая отношение между показателем качества контролируемого размера детали (результат) и воздействующими на него факторами (причины).
|
|
Схема 3.1
Таблица 3.1
Причины, влияющие на технологический процесс.
| 1. заготовка | 1.1 твердость | 1.2 точность размеров |
| 1.3 погрешность формы поверхностей | 1.4 погрешность расположения поверхностей | |
| 2. приспособление | 2.1 Погрешность изготовления | 2.2 погрешность установки на станке |
| 2.3 погрешность базовых поверхностей | ||
| 3. инструмент | 3.1 материал | 3.2 геометрия |
| 3.3 износ | ||
| 4. оборудование | 4.1 специальное | 4.2 специализированное |
| 4.3 универсальное | 4.4 станки с ЧПУ | |
| 5. обработка | 5.1 режимы | 5.2 охлаждение |
| 5.3 вибрации | 5.4 время (машинное) | |
| 5.5 количество смен | ||
| 6. внешние факторы | 6.1 пыльность | 6.2 загазованность |
| 6.3 освещенность | 6.4 температура окружающей среды |