1.Подключите все компоненты нанометрологического комплекса как показано на блок схеме.
2.Подключите интерферометр к интерфейсу USB вашего компьютера;
3.Закрепите наноэталон на интерферометр так, чтобы зеркало образца находилось напротив измерительного отверстия оптического блока на расстоянии 15 мм от основания рис. 48;
4.Запустите программу Optical Interferometer.exe и убедитесь в наличии изображения рис. 50а.
5.Добейтесь появления контрастной интерференционной картины на экране компьютера путем плавного перемещения эталона вдоль направляющих рис. 50б
Рис.49. Наноэталонный оптический блок
Рис. 50а. Интерференционная картина
Рис. 50б. Интерференционная картина
6.Установите с помощью юстировочных винтов наклона зеркала 10-20 полос на экране рис. 51.
Рис. 51. Интерференционная картина.
7.После появления 10-20 полос на экране нажмите кнопку Restart 0 в правой части программы.
8.Дождитесь появления графика на правой части экрана.
9.Установите переключатель полярности в положение +.
10.Включите цифровой вольтметр.
11.Включите поворотом по часовой стрелки потенциометра блока питания, при этом загорится красный светодиод.
12.Установите максимальную величину напряжения 100В.
13.Включите генератор прямоугольных импульсов.
14.На правом экране наблюдайте график соответствующий перемещению зеркала наноэталона.
15.Остановите процесс отображения графика, нажав на кнопку Pause в левой части программы и отключив генератор прямоугольных импульсов.
Рис.52. Интерференционная картина в программе
Optical Interferometer.
16.На графике курсором выберите две точки соответствующие основанию и вершине импульса выбрав кнопку Marker в правой части экрана программы рис. 52.
17.Полученные результаты отображаются в таблице Measuring table правой нижней части экрана, в третьей колонке, рис. 53 - измерения занести в таблицу;
Рис. 53.Таблица с полученными результатами.
18.Повторите действия с пункта 13 при различных напряжениях – 200….1000В.
19.На основании полученных данных постройте график зависимости перемещения величины наноэталона под действием управляющего напряжения.
Рис. 54. Зависимость величины перемещения поверхности пьезоэлектрического материала от величины управляющего напряжения
СОДЕРЖАНИЕ
Введение...............................................................................................3
Работа 1. Синтез и оптические свойства водных растворов
наночастиц золота..............................................................................5
Работа 2. Получение наночастиц серебра......................................18
Работа 3. Получение двумерных наноструктур методом анодного травления............................................................................................25
Работа 4. Основы методов зондовой микроскопии
наноструктур.....................................................................................35
Работа 5. Исследование оптических свойств наноструктур и фотонных кристаллов............................................................................54
Работа 6.Оптическое манипулированием одиночными наночастицами в оптическом пинцете............................................................62
Работа № 7. Сборка солнечного элемента нового типа с использованием нанотехнологий....................................................................74
Работа 8. Изучение процесса обработки наноразмерных плёнок и поверхности в условиях СВЧ плазмохимического травления.....83
Работа 9.Измерение управляемого перемещения в нанометровом диапазоне материалов с обратным пьезоэффектом..................101
Наталия Михайловна Дроздова
Вадим Олегович Вальднер
Анатолий Аркадьевич Евдокимов
Наталия Ивановна Ершова
Александр Анатольевич Ежов
Александр Григорьевич Жданов
Петр Николаевич Лускинович
Елена Дмитриевна Мишина
Владимир Васильевич Паньков
Владислав Иванович Свитов
Александр Иванович Стогний
Андрей Анатольевич Федянин
Наталия Эдуардовна Шерстюк
ПОЛУЧЕНИЕ И ИССЛЕДОВАНИЯ НАНОСТРУКТУР
Лабораторный практикум по нанотехнологиям
Редактор А.С.Сигов
Технический редактор: В.И.Свитов
Художественное оформление: С.В.Семин
На первой странице обложки использованы фото Ельцова К.Н. (СТМ-изображение поверхности Au(111)-(22xÖ3), покрытой атомами хлора-слева; Заведеева Е.В. (Наноструктуры на поверхности алмазоподобной углеродной пленки с кремнием)-справа. Мишина Е.Д.(Оптическое микроскопическое изображение медного фотонного кристалла)-общий фон.
Изд. лицензия № 020456 от 04.03.97.
Подписано в печать ХХ.ХХ.2006. Формат 60´84 1/16.
Бумага офсетная. Печать офсетная.
Усл. печ. л. Х,ХХ.Усл. кр.-отт. ХХ,ХХ. Уч.-изд. л. Х,Х.
Тираж 120 экз. С 36.
Московский государственный институт радиотехники,
электроники и автоматики (технический университет)
119454, Москва, просп. Вернадского, 78