Задание 1. Калибровка микропроектора




Калибровка заключается в определении поперечного увеличения линзы микропроектора. Для калибровки устанавливают микропроектор на оптической скамье, а перед ним – модуль 5 или другой элемент так, чтобы лазерный пучок расширился и осветил в объектной плоскости микропроектора площадку диаметром 5-10 мм, при этом на экране будет освещена площадка диаметром в несколько сантиметров. Размещая в кассете микропроектора различные объекты, получают на экране их увеличенное изображение.

1. Отъюстируйте установку по методике, описанной на стр. 12.

2. Установите на оптической скамье линзу-конденсор (модуль


 
 
сти Э1. В плоскости Э2 образуется дифракционная картина, которая в увеличенном виде наблюдается на экране Э3. 4. Для наблюдения и измерения параметров самих объектов их помещают в кассету микропроектора а объектив смещают так, чтобы волна осветила всю поверхность объекта. При этом на фронтальном экране возникает увеличенное изображение объектов. Рис. 7.4.   5. Установите в двухкоординатный держатель объект 23 – непрозрачный экран со щелью. 6. Передвигая модуль 8 по оптической скамье, добейтесь на экране четкой дифракционной картины, такой, чтобы расстояния между дифракционными максимумами составляло 3-7 мм. 7. Определите расстояния между минимумами 1-го, 2-го и 3-го порядков (). 8. Определите расстояние между объектом 23 и микропроектором (расстояние l на рис. 7.4). 9. По формуле (7.3) найдите ширину щели, учитывая, что при малых : . 10. Измерьте ширину щели непосредственно и сравните с . Для измерения ширины щели выньте объект 23 из двухкоординатного держателя и вставьте его в кассету микропроектора (модуль 2). Сместите объектив (модуль 6) на 0,5 – 1 см. При этом система расфокусируется и объект 23 окажется полностью
5) и в непосредственной близости от него микропроектор (модуль 2). В кассете микропроектора установите объект 2 – калибровочную сетку, цена деления h которой 1,00 мм. 3. По шкале экрана определите координаты изображений нескольких штрихов сетки и найдите расстояние Н между соседними изображениями штрихов. Координата центра исследуемого изображения по шкале экрана должна быть на 30±10 мм больше координаты риски микропроектора по шкале оптической скамьи. При нарушении этого условия увеличиваются погрешности измерений. 4. Найти H для пяти положений микропроектора (отодвигая его каждый раз на 1 см от конденсора) и по среднему значению вычислить его увеличение β = Hср/h. 5. Общая длина b хода луча от линзы микропроектора до экрана определяется конструкцией установки и не может изменяться. В нашей установке b = 285 мм. Тогда фокусное расстояние линзы (2.3)   Задание 2. Определение фокусного расстояния объектива Рис. 2.3.   1. Поставьте линзу-конденсор (модуль 5) сразу за излучателем. Микропроектор (модуль 2) разместите на расстоянии не менее 45 см от конденсора. Объектив (модуль 6) поместите на оптическую ска


 
 
ду соседними главными максимумами, тем, следовательно, более интенсивными и острыми окажутся максимумы. Так как модуль не может быть больше единицы, то из (7.7) следует, что число главных максимумов , (7.9) т.е. определяется отношением периода решетки к длине волны. Согласно (7.7) положение главных максимумов зависит от длины волны λ, поэтому при пропускании через решетку белого света все максимумы, кроме центрального (m = 0), разложатся в спектр, фиолетовая область которого будет обращена к центру дифракционной картины, красная – наружу. Это свойство дифракционной решетки используется для исследования спектрального состава света (определения длин волн и интенсивностей всех монохроматических компонентов), т.е. дифракционная решетка может быть использована как спектральный прибор. Дифракционные решетки, используемые в разных областях спектра, отличаются размерами, формой, материалом поверхности, профилем штрихов и их частотой (от 6000 до 0,25 штрих/мм, что позволяет перекрывать область спектра от ультрафиолетовой его части до инфракрасной).   Порядок выполнения работы Задание 1. Дифракция Фраунгофера на щели Эксперимент 1. Отъюстируйте установку по методике, описанной на стр. 12. 2. На оптической скамье расположите модули согласно рис. 7.4. Поставьте линзу-конденсор Л1 (модуль 5) вплотную к излучателю. Расположите микропроектор Э2 (модуль 2) на отметке 67 см. Установите между конденсором и микропроектором объектив О (модуль 6) и, перемещая его, сфокусируйте световой пучок (объектив должен быть ближе к конденсору, чем к микропроектору). При этом на фронтальном экране установки Э3 должна быть видна яркая точка малых размеров. Между объективом и микропроектором установите двухкоординатный держатель Э1 (модуль 8). Вращая юстировочные винты объектива, поставьте эту точку на отметку 70 см. 3. Исследуемые объекты помещайте в кассете модуля 8 в плоско
мью между конденсором и микропроектором (рис. 2.3). Перемещая объектив, получите на экране установки сфокусированное изображение точечного источника света, созданного конденсором. 2. Определите расстояние от риски конденсора до риски объектива и расстояние от риски объектива до риски микропроектора, соответственно а1 и b1, найдите фокусное расстояние f1 объектива, воспользовавшись формулой тонкой линзы (2.2). 3. Получите сфокусированное изображение точечного источника при другом положении объектива, найдите новые значения a 2, b 2 и f 2. Сравните их с предыдущими. Проверьте, выполняются ли соотношения , . 4. Выполните пункты 1-3 еще два раза для различных положений микропроектора (модуль 2). При этом расстояние между микропроектором и конденсором (, см. рис. 2.3) не должно быть меньше 45 см. 5. Вычислите , , , , , , , и результаты занесите в таблицы:
                   
             
             

 

           
     
     

 



Поделиться:




Поиск по сайту

©2015-2024 poisk-ru.ru
Все права принадлежать их авторам. Данный сайт не претендует на авторства, а предоставляет бесплатное использование.
Дата создания страницы: 2016-08-20 Нарушение авторских прав и Нарушение персональных данных


Поиск по сайту: