Разделим (9.3) на :
. (9.9)
Известно [8, с. 70-72], что
, (9.10)
есть относительная диэлектрическая проницаемость вещества, которая в нашем случае является частотно-зависимой физической величиной. Из (9.1), (9.9), (9.10) следует, что
. (9.11)
Представим результат разделения связанных зарядов (рис. 9.3, 9.5, 9.6) под влиянием внешнего поля в виде рис. 9.7. Полагая поле однородным, образованным двумя параллельными, бесконечными плоскостями, находящимися в идеальном вакууме (в междоузлиях кристаллической структуры) (рис. 9.8), получаем, согласно теореме Гаусса [8, с. 57], напряженность поля связанных зарядов в виде:
, (9.12)
где
, (9.13)
- электрическая постоянная
- величина суммарного связанного заряда на торцевой поверхности диэлектрика (рис. 9.7), площадью .
Представим (9.13) в виде
, (9.14)
где - объёмная плотность связанных зарядов диэлектрика, заключенных в объеме .
Рисунок 9.7
Рисунок 9.8
Подстановка (9.14) в (9.12) и (9.12) в (9.11) дает
. (9.15)
Вводя в (9.15) значение () из решения (9.7) получаем:
. (9.16)
Формула (9.16) представляет собой результат решения задачи о нахождении зависимости для диэлектриков с единственным валентным электроном в узле структуры.
В общем случае, валентных электронов в окрестности любого иона более 1 (2, 3 и т.д.). В этом случае зависимость (9.16) усложняется (см. далее.).
9.4. АНАЛИЗ ЗАВИСИМОСТИ
Пусть валентный электрон диэлектрика обладает малым коэффициентом затухания , таким, что
. (9.17)
Обозначив и учитывая (9.17), получаем из (9.16):
, (9.18)
Пусть и возрастает, - убывает, - возрастает, - возрастает. При , . Зависимость , для интервала показана на рисунке 9.9. При (воздействие внешнего электромагнитного поля на валентный электрон отсутствует),
|
. (9.19)
Рисунок 9.9
Рисунок 9.10
Рисунок 9.11
Пусть и по-прежнему возрастает. В этом случае, дробь , при любых . При достаточно больших
, (9.20)
и с ростом , - убывает, - возрастает.
В предельном случае (), (рис. 9.10). При , , · Объединяя два проведенных анализа, видим, что при , терпит разрыв, скачкообразно устремляясь в (рис. 9.11). Такому поведению соответствует резонансное поглощение энергии волны валентным электроном, в результате чего амплитуда смещения его центра масс (рис. 9.12).
Во всяком реальном диэлектрике валентный электрон обладает конечным коэффициентом затухания и его резонансная частота [4]
. (9.21)
Амплитуда смещения также конечна:
. (9.22)
В результате зависимость приобретает вид, показанный на рисунке 9.14.
Резонансному поглощению энергии электромагнитной волны на частоте (рис. 9.13) соответствует резкое увеличение затухания сигнала в процессе его распространения по ВОЛС. Частота несущего оптического сигнала равная неприменима для передачи его по ВОЛС, как неприменимы и частоты, лежащие в окрестности .
Рисунок 9.12
Рисунок 9.13
Рисунок 9.14
Рисунок 9.15
Рисунок 9.16
Рисунок 9.17
Участки и (рис. 9.14) традиционно носят название областей "нормальной" дисперсии. На этих участках возрастает с ростом . Область , соответствующая пику поглощения электромагнитной энергии, называется областью "аномальной" дисперсии. На участке резко убывает с ростом . Участку соответствует видимый диапазон нм. Левее точки (К) располагается инфракрасный диапазон (ИК), правее точки (Ф) - ультрафиолетовый (УФ). В увеличенном масштабе участок () имеет вид, показанный на рисунке 9. 15. Поскольку ~ , зависимости соответствует рисунок 9.16, откуда следует, что для красного и ИК - диапазонов и - для фиолетового и УФ диапазонов, связаны следующим соотношением
|
.
В диэлектрических оптических волноводах, ионы которых содержат по нескольку электронов, ход зависимости более сложен (рис. 9.17) и каждая из областей аномальной дисперсии имеет свой пик поглощения. Так например, в "чистом" SiO2 наибольшие неприятности доставляют 2 типа поглощения: первый расположен в ИК - диапазоне, второй в УФ – области. "Хвосты" от указанных пиков поглощения оставляют для распространения сигнала лишь узкое "окно" прозрачности на длине волны 1,2 мкм с шириной самого " окна" около 0,4 мкм. Именно этот диапазон длин волн сегодня наиболее перспективен при конструировании ВОЛС на основе SiO2.
КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ
1. Дисперсия как физическое явление.
2. Физический смысл абсолютного показателя преломления.
3. От каких параметров зависит напряженность поля связанных зарядов в диэлектрике?
4. Обоснуйте дифференциальное уравнение движения валентного электрона под воздействием внешнего электромагнитного поля.
5. Сделайте вывод формулы (9.16).
6. Дайте понятия областей нормальной и аномальной дисперсии.
7. Почему резонансная частота колебаний валентного электрона меньше частоты его собственных колебаний?
|
8. Изобразите ход зависимости для волн видимого диапазона.